| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 主要符号对照表 | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-26页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 真空沿面闪络开关研究现状 | 第13-23页 |
| 1.2.1 真空沿面闪络开关发展历程 | 第13-17页 |
| 1.2.2 真空沿面闪络开关相关理论与实验研究 | 第17-23页 |
| 1.3 真空沿面闪络开关目前存在的主要问题 | 第23-24页 |
| 1.4 课题研究内容和章节安排 | 第24-26页 |
| 第2章 真空沿面闪络开关理论研究 | 第26-55页 |
| 2.1 介质表面气体层状态 | 第26-32页 |
| 2.1.1 介质表面气体来源 | 第26-30页 |
| 2.1.2 脱附层压强分布及发展规律 | 第30-32页 |
| 2.2 击穿时延中的类汤生放电过程 | 第32-40页 |
| 2.2.1 高约化电场下的汤生电离系数 | 第34-38页 |
| 2.2.2 脱附层击穿时延与类汤生电流的增长 | 第38-40页 |
| 2.3 脱附层击穿阶段的放电通道电阻崩溃 | 第40-46页 |
| 2.3.1 放电通道等离子体电阻来源 | 第40-42页 |
| 2.3.2 放电通道电离度增长速率及开关导通电阻 | 第42-45页 |
| 2.3.3 脱附层击穿与高压气体击穿、赝火花开关击穿的比较 | 第45-46页 |
| 2.4 开关恢复过程中的气体扩散 | 第46-51页 |
| 2.4.1 开关绝缘恢复的气压条件 | 第46-47页 |
| 2.4.2 介质表面气体消散模型 | 第47-49页 |
| 2.4.3 释气量与气体分子能量对绝缘恢复时间的影响 | 第49-51页 |
| 2.5 微秒脉冲下闪络开关工作机制及工作特性 | 第51-53页 |
| 2.6 本章小结 | 第53-55页 |
| 第3章 真空沿面闪络开关导通特性与重频能力实验研究 | 第55-85页 |
| 3.1 900kV高压脉冲实验平台 | 第55-65页 |
| 3.1.1 高压脉冲实验平台总体结构 | 第55-57页 |
| 3.1.2 初级谐振充电电源 | 第57-58页 |
| 3.1.3 Tesla变压器型脉冲形成线 | 第58-60页 |
| 3.1.4 闪络开关真空腔 | 第60-61页 |
| 3.1.5 大功率水负载 | 第61-62页 |
| 3.1.6 输出控制单元 | 第62页 |
| 3.1.7 测量与控制系统 | 第62-65页 |
| 3.2 闪络开关的闭合时间 | 第65-76页 |
| 3.2.1 放电通道电阻时间项 | 第66-71页 |
| 3.2.2 放电通道电感时间项 | 第71-72页 |
| 3.2.3 开关的闭合时间 | 第72-75页 |
| 3.2.4 讨论 | 第75-76页 |
| 3.3 闪络开关的导通电阻 | 第76-82页 |
| 3.3.1 开关导通电阻的测量方法 | 第77-78页 |
| 3.3.2 导通电阻与放电通道长度关系 | 第78-79页 |
| 3.3.3 导通电阻与导通电流关系 | 第79-80页 |
| 3.3.4 闪络开关的输出电压效率 | 第80-82页 |
| 3.4 闪络开关的绝缘恢复速度 | 第82-84页 |
| 3.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 第4章 闪络放电对绝缘介质的损伤研究 | 第85-108页 |
| 4.1 绝缘材料的闪络脉冲寿命和损伤图像 | 第85-90页 |
| 4.1.1 绝缘材料脉冲寿命的实验方法 | 第85-86页 |
| 4.1.2 绝缘材料的闪络脉冲寿命 | 第86-88页 |
| 4.1.3 绝缘材料的表面损伤图像 | 第88-90页 |
| 4.2 放电通道对介质的热侵蚀 | 第90-99页 |
| 4.2.1 介质表面的热流密度 | 第90-91页 |
| 4.2.2 材料的散热阈值 | 第91-97页 |
| 4.2.3 材料汽化热占比系数 | 第97-99页 |
| 4.3 陶瓷表面辐射分解与结构破坏 | 第99-106页 |
| 4.3.1 强辐射造成的陶瓷分解 | 第99-104页 |
| 4.3.2 力学冲击对陶瓷的结构破坏 | 第104-106页 |
| 4.4 长寿命绝缘材料选择方法 | 第106-107页 |
| 4.5 本章小结 | 第107-108页 |
| 第5章 高压长寿命真空沿面闪络开关研制 | 第108-125页 |
| 5.1 开关工作场强实验研究 | 第108-119页 |
| 5.1.1 开关工作场强与绝缘材料的关系 | 第108-111页 |
| 5.1.2 开关工作场强与介质形状的关系 | 第111-114页 |
| 5.1.3 开关工作场强与介质厚度的关系 | 第114-115页 |
| 5.1.4 开关击穿电压统计分布 | 第115-119页 |
| 5.2 高压长寿命闪络开关研制 | 第119-124页 |
| 5.2.1 真空沿面闪络开关设计 | 第119-122页 |
| 5.2.2 真空沿面闪络开关的工作参数 | 第122-124页 |
| 5.3 本章小结 | 第124-125页 |
| 第6章 结论 | 第125-129页 |
| 6.1 主要结论 | 第125-126页 |
| 6.2 下一步工作 | 第126-129页 |
| 参考文献 | 第129-136页 |
| 致谢 | 第136-138页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第138页 |
