基于广义S变换的电压骤降检测方法及应用研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.2 电压骤降的产生及危害 | 第12-14页 |
| 1.2.1 电压骤降产生的原因 | 第12-13页 |
| 1.2.2 电压骤降带来的危害 | 第13-14页 |
| 1.3 电压骤降检测算法及应用研究现状 | 第14-17页 |
| 1.4 项目来源与本文的主要工作 | 第17-19页 |
| 第2章 广义S变换基本原理 | 第19-31页 |
| 2.1 S变换基本原理 | 第19-22页 |
| 2.1.1 连续S变换 | 第19-21页 |
| 2.1.2 离散S变换及算法实现 | 第21-22页 |
| 2.2 电压骤降特征值 | 第22-26页 |
| 2.3 S变换改进方法 | 第26-31页 |
| 2.3.1 高斯优化窗 | 第27-29页 |
| 2.3.2 S变换简化运算 | 第29-31页 |
| 第3章 基于广义S变换电压骤降检测方法 | 第31-49页 |
| 3.1 调节因子取值研究 | 第31-37页 |
| 3.1.1 调节因子对检测准确度的影响 | 第31-35页 |
| 3.1.2 调节因子优化方法 | 第35-37页 |
| 3.2 电压骤降自适应检测方法 | 第37-41页 |
| 3.2.1 电压骤降事件判断方法 | 第37-39页 |
| 3.2.2 电压骤降特征值自适应提取方法 | 第39-40页 |
| 3.2.3 电压骤降自适应检测流程 | 第40-41页 |
| 3.3 电压骤降检测仿真实验研究 | 第41-49页 |
| 3.3.1 谐波干扰影响 | 第41-43页 |
| 3.3.2 噪声影响 | 第43-44页 |
| 3.3.3 基频波动影响 | 第44-45页 |
| 3.3.4 闪变扰动影响 | 第45-47页 |
| 3.3.5 复合因素影响 | 第47-49页 |
| 第4章 电压骤降检测算法应用研究 | 第49-61页 |
| 4.1 硬件平台 | 第49-55页 |
| 4.1.1 硬件总体架构 | 第49-50页 |
| 4.1.2 信号调理与数据采集模块 | 第50-53页 |
| 4.1.3 数据处理模块 | 第53-54页 |
| 4.1.4 U盘存储模块 | 第54-55页 |
| 4.2 软件设计 | 第55-61页 |
| 4.2.1 软件总体结构设计 | 第55-57页 |
| 4.2.2 数据采集及电压骤降判断模块 | 第57-58页 |
| 4.2.3 电压骤降检测模块 | 第58-59页 |
| 4.2.4 故障录波模块 | 第59-61页 |
| 第5章 系统测试及误差分析 | 第61-67页 |
| 5.1 系统测试 | 第61-63页 |
| 5.1.1 检验工具与方法 | 第61-62页 |
| 5.1.2 检验实例与结果分析 | 第62-63页 |
| 5.2 误差来源分析 | 第63-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 附录A 攻读学位期间参与的项目与获得的科研成果 | 第76-77页 |
| 附录B 基于广义S变换的电压骤降检测仿真程序 | 第77-78页 |
| 附录C 硬件平台PCB图 | 第78页 |
