| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 论文主要研究内容及章节安排 | 第11-13页 |
| 第2章 全局光照绘制技术 | 第13-23页 |
| 2.1 全局光照相关理论 | 第13-14页 |
| 2.1.1 全局光照的基本概念 | 第13页 |
| 2.1.2 光照模型的基本概念 | 第13-14页 |
| 2.2 局部光照模型 | 第14-17页 |
| 2.2.1 Lambert光照模型 | 第14-15页 |
| 2.2.2 Phong光照模型 | 第15-16页 |
| 2.2.3 Blinn-Phong光照模型 | 第16-17页 |
| 2.3 全局光照模型 | 第17-20页 |
| 2.3.1 辐射度算法 | 第17-18页 |
| 2.3.2 光线跟踪算法 | 第18-19页 |
| 2.3.3 光子映射算法 | 第19-20页 |
| 2.4 CUDA并行计算架构 | 第20-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 可见性计算的技术分析 | 第23-28页 |
| 3.1 阴影的基本概念 | 第23页 |
| 3.2 可见性计算开销大的原因 | 第23-24页 |
| 3.3 蒙特卡罗可见性采样方法 | 第24-27页 |
| 3.3.1 随机采样 | 第25页 |
| 3.3.2 均匀采样 | 第25-26页 |
| 3.3.3 均匀抖动采样 | 第26-27页 |
| 3.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第4章 基于自适应迭代蒙特卡罗可见性采样的全局光照效果绘制算法 | 第28-38页 |
| 4.1 算法概述 | 第28-29页 |
| 4.2 二值可见性计算 | 第29-31页 |
| 4.3 可见性梯度探测算法 | 第31-32页 |
| 4.4 自适应迭代蒙特卡罗可见性采样方法 | 第32-35页 |
| 4.4.1 自适应面光源采样的原理 | 第32-33页 |
| 4.4.2 算法在CUDA上的实现过程 | 第33-35页 |
| 4.5 实验结果及分析 | 第35-37页 |
| 4.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 基于面光源可见性空间复用的全局光照效果绘制算法 | 第38-50页 |
| 5.1 算法概述 | 第38-39页 |
| 5.2 基于交织思想的面光源采样方法 | 第39-42页 |
| 5.2.1 面光源采样基本模式 | 第39-41页 |
| 5.2.2 算法在CUDA上的实现过程 | 第41-42页 |
| 5.3 面光源可见性空间复用及滤波估计 | 第42-46页 |
| 5.4 实验结果及分析 | 第46-49页 |
| 5.4.1 不同空间复用范围的比较 | 第47-48页 |
| 5.4.2 与其他算法的对比 | 第48-49页 |
| 5.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第6章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 全文总结 | 第50-51页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 附录 | 第56页 |