一种基于部分扫描链的针对故障注入攻击的密码芯片安全测试方法
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 | 第9-13页 |
| 1.1.1 信息安全和密码芯片 | 第9-10页 |
| 1.1.2 可测性设计与部分扫描设计 | 第10-11页 |
| 1.1.3 密码芯片的安全测试 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究的现状 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 密码芯片与故障注入攻击基础 | 第17-28页 |
| 2.1 密码算法简介 | 第17-18页 |
| 2.2 故障注入攻击密码芯片基础 | 第18-23页 |
| 2.2.1 故障注入的起源、注入手段及故障分类 | 第18-19页 |
| 2.2.2 故障注入攻击的理论 | 第19-23页 |
| 2.3 加密AES算法介绍与故障攻击 | 第23-27页 |
| 2.3.1 AES算法背景和基础 | 第23-25页 |
| 2.3.2 针对AES的DFA攻击 | 第25-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 可测性设计基础 | 第28-38页 |
| 3.1 可测性设计的背景 | 第28-32页 |
| 3.1.1 可测性设计的分类 | 第28-29页 |
| 3.1.2 内建自测试（BIST）简介 | 第29-30页 |
| 3.1.3 边界扫描DFT简介 | 第30-32页 |
| 3.2 扫描设计（Scan Design） | 第32-35页 |
| 3.2.1 扫描设计的基础介绍 | 第32-34页 |
| 3.2.2 扫描设计中移位和捕获周期简介 | 第34-35页 |
| 3.3 部分扫描设计 | 第35-37页 |
| 3.3.1 全扫描设计的不足 | 第35-36页 |
| 3.3.2 部分扫描设计的引入 | 第36-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 针对故障注入的部分扫描链安全测试方法 | 第38-44页 |
| 4.1 用于筛选敏感寄存器的软故障平台 | 第38-41页 |
| 4.1.1 故障注入的假设 | 第38-39页 |
| 4.1.2 软故障发生率介绍 | 第39页 |
| 4.1.3 故障注入实验方法与步骤 | 第39-41页 |
| 4.2 基于部分扫描链的安全测试方法 | 第41-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 基于部分扫描设计的安全测试实验和分析 | 第44-52页 |
| 5.1 软故障仿真平台敏感寄存器筛选结果与分析 | 第44-46页 |
| 5.2 对AES算法故障注入攻击结果 | 第46-48页 |
| 5.3 部分扫描链综合与测试向量生成结果与分析 | 第48-51页 |
| 5.3.1 敏感寄存器的筛选结果 | 第48-49页 |
| 5.3.2 部分扫描链综合与结果 | 第49-50页 |
| 5.3.3 测试向量生成 | 第50-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 总结和研究展望 | 第52-54页 |
| 6.1 本文小结 | 第52-53页 |
| 6.2 未来研究展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第58-59页 |
