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基于相位测量的瓷砖平整度检测技术研究

摘要第3-4页
abstract第4-5页
1 绪论第8-15页
    1.1 研究背景与意义第8页
    1.2 国内外研究现状第8-12页
        1.2.1 瓷砖检测技术国外研究现状第8-10页
        1.2.2 瓷砖检测技术国内研究现状第10-12页
    1.3 本论文主要内容和研究技术路线第12-15页
        1.3.1 主要研究内容第12-13页
        1.3.2 研究技术路线第13-15页
2 光学三维测量技术第15-18页
    2.1 接触式测量第15页
    2.2 非接触式测量第15-17页
        2.2.1 飞行时间法第15-16页
        2.2.2 干涉法第16页
        2.2.3 光学三角测量法第16-17页
    2.3 本章小结第17-18页
3 基于光栅投影的三维轮廓测量技术第18-38页
    3.1 光栅投影法三维轮廓测量的基本原理第18-19页
    3.2 相位测量技术简介第19-24页
        3.2.1 相位测量轮廓术第19-20页
        3.2.2 傅里叶变换轮廓术第20-22页
        3.2.3 希尔伯特-黄变换第22-24页
    3.3 相位测量技术模拟与分析第24-29页
        3.3.1 相位测量轮廓术模拟与分析第24-27页
        3.3.2 希尔伯特-黄变换模拟与分析第27-29页
    3.4 相位去包裹第29-33页
        3.4.1 相位去包裹技术简介第29-30页
        3.4.2 最小二范数相位去包裹算法第30-33页
    3.5 三维轮廓测量系统搭建与测试第33-37页
        3.5.1 三维轮廓测量系统搭建第33-35页
        3.5.2 系统三维重建测试第35-37页
    3.6 本章小结第37-38页
4 摄像机标定第38-53页
    4.1 参考坐标系简介第38-40页
        4.1.1 图像坐标系和像平面坐标系第38-39页
        4.1.2 摄像机坐标系与世界坐标系第39-40页
    4.2 摄像机模型第40-42页
        4.2.1 摄像机的针孔模型第40-41页
        4.2.2 摄像机的畸变模型第41-42页
    4.3 摄像机标定方法第42-43页
    4.4 张正友标定算法原理第43-47页
    4.5 摄像机标定实验第47-50页
    4.6 单目摄像机三维重建第50-52页
    4.7 本章小结第52-53页
5 瓷砖平整度检测第53-79页
    5.1 瓷砖平整度检测标准第53-54页
    5.2 凸包的基本概念及算法实现第54-58页
        5.2.1 基本概念第54-55页
        5.2.2 二维凸包算法第55-56页
        5.2.3 三维凸包算法第56-58页
    5.3 KNN原理及实现第58-59页
    5.4 瓷砖特征点检测第59-61页
        5.4.1 方法1:直接检测法第59-60页
        5.4.2 方法2:点云投影检测法第60-61页
    5.5 瓷砖特征点检测实验第61-68页
    5.6 最小二乘法拟合瓷砖平面第68-70页
    5.7 平整度检测第70-74页
    5.8 瓷砖表面质量分析及中心弯曲度的改进第74-78页
        5.8.1 瓷砖表面质量分析第75-77页
        5.8.2 瓷砖中心弯曲度参数计算的改进第77-78页
    5.9 本章小结第78-79页
6 总结与展望第79-81页
    6.1 总结第79-80页
    6.2 展望第80-81页
致谢第81-82页
参考文献第82-84页

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