高分辨率数字示波器数据分析软件设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文的内容与结构 | 第12-13页 |
| 第二章 高分辨率示波器总体框架及相关软件设计方案 | 第13-20页 |
| 2.1 硬件系统概述 | 第13-14页 |
| 2.2 软件系统概述 | 第14-16页 |
| 2.3 数据分析与处理软件设计方案 | 第16-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 智能触发功能设计 | 第20-36页 |
| 3.1 触发功能的实现方案 | 第20-23页 |
| 3.1.1 触发功能基本原理 | 第20-21页 |
| 3.1.2 触发功能软件结构 | 第21-23页 |
| 3.2 区域触发 | 第23-25页 |
| 3.2.1 区域触发原理与应用 | 第23-24页 |
| 3.2.2 区域触发实现流程与方案 | 第24-25页 |
| 3.3 测量触发 | 第25-28页 |
| 3.4 自动触发 | 第28-35页 |
| 3.4.1 自动触发流程 | 第28-29页 |
| 3.4.2 触发训练 | 第29-34页 |
| 3.4.3 训练强度设置 | 第34-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 DDR验证性分析软件功能设计 | 第36-52页 |
| 4.1 DDR分析软件构造 | 第36-38页 |
| 4.2 DDR读写分离的实现 | 第38-42页 |
| 4.2.1 DDR工作原理 | 第38-39页 |
| 4.2.2 读写分离的原理 | 第39-40页 |
| 4.2.3 读写分离的实现 | 第40-42页 |
| 4.3 DDR参数测量的实现 | 第42-51页 |
| 4.3.1 时钟参数测试 | 第42-44页 |
| 4.3.2 时序参数测试 | 第44-49页 |
| 4.3.3 电气性能参数测试 | 第49-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 USB2.0一致性分析软件功能设计 | 第52-63页 |
| 5.1 USB2.0一致性分析原理和实现 | 第52-54页 |
| 5.1.1 USB2.0协议介绍 | 第52-53页 |
| 5.1.2 USB2.0分析软件设计方案 | 第53-54页 |
| 5.2 USB2.0参数测试的实现 | 第54-62页 |
| 5.2.1 USB协议分析 | 第54-55页 |
| 5.2.2 信号质量测试 | 第55-59页 |
| 5.2.3 高速信号测试 | 第59-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 功能测试与验证 | 第63-78页 |
| 6.1 触发模块功能验证 | 第63-72页 |
| 6.1.1 区域触发功能验证 | 第63-65页 |
| 6.1.2 测量触发 | 第65-67页 |
| 6.1.3 自动触发功能验证 | 第67-72页 |
| 6.2 DDR验证性分析软件功能验证 | 第72-74页 |
| 6.2.1 通道设置与测量设置 | 第72-73页 |
| 6.2.2 测量结果分析 | 第73-74页 |
| 6.3 USB2.0参数测试与验证 | 第74-77页 |
| 6.3.1 测试环境 | 第74-75页 |
| 6.3.2 测试结果分析 | 第75-77页 |
| 6.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第七章 结论与展望 | 第78-80页 |
| 7.1 全文总结 | 第78页 |
| 7.2 工作展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第83页 |
