| 摘要 | 第4-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 1 绪论 | 第14-29页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 ZnO压敏电阻电性能及其表征 | 第15-17页 |
| 1.3 ZnO压敏电阻基本理论模型 | 第17-20页 |
| 1.4 ZnO压敏陶瓷晶界特性 | 第20-22页 |
| 1.5 ZnO MLVs研究现状及发展趋势 | 第22-26页 |
| 1.6 贱金属内电极ZnO MLVs制备的关键科学问题 | 第26-27页 |
| 1.7 本论文的主要研究内容 | 第27-29页 |
| 2 制备工艺及测试方法 | 第29-38页 |
| 引言 | 第29页 |
| 2.1 样品制备工艺 | 第29-31页 |
| 2.2 测试及计算方法 | 第31-35页 |
| 2.3 实验所用原料、设备及测试仪器 | 第35-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 3 ZnO在还原气氛中的分解及缺陷化学研究 | 第38-70页 |
| 引言 | 第38-39页 |
| 3.1 传统ZnO-Bi_2O_3系压敏材料的抗还原特性研究 | 第39-44页 |
| 3.2 ZnO的抗还原改性研究 | 第44-51页 |
| 3.3 ZnO的第一性原理计算及BN对组分的还原抑制机理 | 第51-57页 |
| 3.4 ZnO-Bi_2O3-BN压敏陶瓷的再氧化及电性能研究 | 第57-66页 |
| 3.5 再氧化过程及机理研究 | 第66-68页 |
| 3.6 本章小结 | 第68-70页 |
| 4 基于还原再氧化工艺的ZnO压敏材料改性研究 | 第70-91页 |
| 引言 | 第70页 |
| 4.1 Sb_2O_3掺杂对微观结构及电性能的影响研究 | 第70-78页 |
| 4.2 Sb_2O_3对压敏陶瓷性能影响机理 | 第78-81页 |
| 4.3 过渡金属氧化物MnO_2、Co_2O_3掺杂改性研究 | 第81-85页 |
| 4.4 MnO_2、Co_2O_3改性机理及协同机制 | 第85-89页 |
| 4.5 本章小结 | 第89-91页 |
| 5 片式ZnO压敏电阻及其与贱金属Ni内电极的共烧研究 | 第91-114页 |
| 引言 | 第91-92页 |
| 5.1 Ni电极与ZnO压敏材料的共烧匹配及欧姆接触 | 第92-95页 |
| 5.2 ZnO MLVs压敏电压调控 | 第95-103页 |
| 5.3 再氧化过程对ZnO MLVs微观结构及电性能影响 | 第103-109页 |
| 5.4 烧结制程与再氧化条件分析 | 第109-112页 |
| 5.5 本章小结 | 第112-114页 |
| 6 全文总结与展望 | 第114-118页 |
| 6.1 本文总结 | 第114-116页 |
| 6.2 展望 | 第116-118页 |
| 致谢 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-133页 |
| 附录1 授权专利及发表论文 | 第133-134页 |
