QFP/BGA芯片引脚视觉测量技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题来源、目的及意义 | 第8-10页 |
| 1.2 机器视觉检测技术概述 | 第10-12页 |
| 1.3 IC芯片外观检测发展现状 | 第12页 |
| 1.4 视觉检测技术的发展趋势 | 第12-13页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.6 本章小结 | 第14-15页 |
| 2 IC芯片外观检测需求分析 | 第15-19页 |
| 2.1 BGA芯片外观检测需求分析 | 第15-16页 |
| 2.2 QFP芯片外观检测需求分析 | 第16-17页 |
| 2.3 实验设备 | 第17页 |
| 2.4 芯片外观检测相关技术需求 | 第17-18页 |
| 2.5 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 标定靶标特征点信息提取算法研究 | 第19-35页 |
| 3.1 传统特征点提取算法缺陷分析 | 第19-24页 |
| 3.2 特征点信息提取算法改进 | 第24-31页 |
| 3.3 实验 | 第31-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 基于LM优化理论二维标定算法 | 第35-47页 |
| 4.1 相机标定算法研究 | 第35-43页 |
| 4.2 基于LM算法的二维标定算法 | 第43-44页 |
| 4.3 实验 | 第44-46页 |
| 4.4 本章小节 | 第46-47页 |
| 5 基于Tukey权重函数的最小二乘测量算法 | 第47-57页 |
| 5.1 最小二乘法原理 | 第47-49页 |
| 5.2 线性边缘拟合流程 | 第49-52页 |
| 5.3 圆形边缘拟合流程 | 第52-54页 |
| 5.4 实验 | 第54-56页 |
| 5.5 本章小节 | 第56-57页 |
| 6 芯片外观检测实验设计与结果分析 | 第57-66页 |
| 6.1 芯片外观检测实现方法设计 | 第57-62页 |
| 6.2 实验设计及分析 | 第62-65页 |
| 6.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 7 总结与展望 | 第66-68页 |
| 7.1 全文总结 | 第66-67页 |
| 7.2 工作展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 附录 攻读学位期间发表学术论文目录 | 第72页 |
