基于蒙特卡洛方法的高分辨率中子测井技术研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 本文研究的背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.3 主要研究内容及方法 | 第11-13页 |
| 2 中子测井和蒙特卡洛方法简介 | 第13-19页 |
| 2.1 中子测井的理论基础 | 第13-14页 |
| 2.2 补偿中子测井 | 第14-16页 |
| 2.3 蒙特卡洛方法 | 第16-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 探测器优化设计研究 | 第19-48页 |
| 3.1 计算模型 | 第19页 |
| 3.2 分辨率的理论计算 | 第19-22页 |
| 3.3 源距优化设计 | 第22-34页 |
| 3.4 探测器尺寸 | 第34-42页 |
| 3.5 屏蔽材料优化设计 | 第42-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 4 影响因素分析以及校正技术研究 | 第48-56页 |
| 4.1 中子孔隙度井径校正 | 第49-50页 |
| 4.2 中子孔隙度泥饼校正 | 第50-51页 |
| 4.3 中子孔隙度井眼间隙校正 | 第51-52页 |
| 4.4 中子孔隙度挖掘效应校正 | 第52页 |
| 4.5 中子孔隙度岩性校正 | 第52-53页 |
| 4.6 泥浆密度和泥浆矿化度校正 | 第53-54页 |
| 4.7 地层水矿化度校正 | 第54-55页 |
| 4.8 本章小结 | 第55-56页 |
| 5 高分辨率中子测井曲线处理研究 | 第56-67页 |
| 5.1 高分辨率处理技术现状 | 第56-59页 |
| 5.2 高分辨率处理-纵向分辨率匹配技术 | 第59-64页 |
| 5.3 现场应用效果 | 第64-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 作者简历 | 第70页 |
