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基于单一波长激光器测量多波长波片相位延迟量的系统设计与开发

摘要第4-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 绪论第11-25页
    1.1 光学精密测量仪器的发展机遇第11页
    1.2 光学相位延迟量测量的意义第11-12页
    1.3 波片相位延迟量测量方法分类及比较第12-23页
    1.4 论文的主要内容第23-25页
第二章 偏振光理论第25-64页
    2.1 偏振光基本理论第25-36页
        2.1.1 光波的偏振性第25-28页
        2.1.2 光波的偏振分析法第28-34页
            2.1.2.1 三角函数法第28-29页
            2.1.2.2 琼斯矢量法第29-32页
            2.1.2.3 斯托克斯矢量法第32-33页
            2.1.2.4 邦加球图示法第33-34页
        2.1.3 常用偏振器件的变换矩阵第34-36页
            2.1.3.1 偏振器第34-35页
            2.1.3.2 波片第35-36页
    2.2 晶体的偏振性及常见偏振元件简介第36-51页
        2.2.1 晶体的偏振性第37-44页
            2.2.1.1 各向异性介质中的介电张量第37-38页
            2.2.1.2 平面波在晶体中的传播第38-44页
        2.2.2 常见偏振元件简介第44-51页
            2.2.2.1 偏振片第45-46页
            2.2.2.2 波片第46-50页
            2.2.2.3 偏振棱镜第50-51页
    2.3 偏振光的调制第51-64页
        2.3.1 线性电光效应第52-56页
        2.3.2 磁光效应第56-58页
        2.3.3 声光效应第58-64页
第三章 基于单一波长激光器测量多波长波片相位延迟量的系统设计及实现第64-97页
    3.1 光电系统设计概述第64-67页
    3.2 系统总体设计第67-69页
        3.2.1 设计的总体要求第67页
        3.2.2 相位延迟测量系统的描述第67-69页
    3.3 单机设计方案第69-83页
        3.3.1 光学调制补偿单元第70-79页
            3.3.1.1 光源器件第70-71页
            3.3.1.2 电光调制光学器件第71-78页
            3.3.1.3 光学补偿器件第78-79页
        3.3.2 光电探测单元第79-80页
        3.3.3 机械结构控制单元第80-83页
        3.3.4 数据软件处理单元第83页
    3.4 系统集成及方案优化第83-97页
        3.4.1 系统集成及分析第83-94页
            3.4.1.1 直接测量法第89-90页
            3.4.1.2 交叉测量法第90-94页
        3.4.2 系统优化第94-97页
第四章 光学相位延迟量精密测量实验结果及分析第97-124页
    4.1 系统测量方案及调试第97-107页
        4.1.1 系统安装调试第97-100页
        4.1.2 系统标定第100-107页
    4.2 元件测量及结果分析第107-121页
        4.2.1 直接测量实验及结果第108-115页
        4.2.2 交叉测量实验及结果第115-121页
    4.3 误差分析第121-124页
第五章 研究成果的商品化开发第124-131页
    5.1 系统商品化转化第124-125页
    5.2 产品深入开发与设计改进第125-131页
        5.2.1 产品样品开发及技术改进第125-129页
        5.2.2 样机设计及产品开发第129-131页
第六章 总结与展望第131-134页
参考文献第134-142页
附录第142-146页
致谢第146-148页
攻读学位期间发表的学术论文目录第148页

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