X射线透照图像与被检对象几何尺寸和密度信息重建研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第11页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外安检设备发展现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 国内发展现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国外先进技术 | 第13-15页 |
| 1.3 研究的局限性及假设 | 第15-16页 |
| 1.4 研究内容及论文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 X射线探测技术的基本原理 | 第17-31页 |
| 2.1 X射线的产生及X射线谱 | 第17-19页 |
| 2.1.1 X射线产生原理 | 第17-18页 |
| 2.1.2 X射线发射谱 | 第18-19页 |
| 2.1.3 单色X射线和多色X射线 | 第19页 |
| 2.2 X射线的物理性质 | 第19-20页 |
| 2.2.1 波动性 | 第19页 |
| 2.2.2 粒子性 | 第19-20页 |
| 2.3 X射线与物质的相互作用 | 第20-25页 |
| 2.3.1 光电效应 | 第21-22页 |
| 2.3.2 康普顿散射 | 第22-24页 |
| 2.3.3 X射线透射 | 第24-25页 |
| 2.4 X射线探测技术 | 第25-31页 |
| 2.4.1 X射线探测器 | 第25-27页 |
| 2.4.2 X射线探测原理 | 第27-28页 |
| 2.4.3 几种X射线探测系统 | 第28-31页 |
| 第3章 被检对象几何尺寸识别 | 第31-47页 |
| 3.1 实验平台介绍 | 第31-33页 |
| 3.2 数字图像采集及处理 | 第33-41页 |
| 3.2.1 数字图像采集 | 第34-35页 |
| 3.2.2 数字图像边缘提取 | 第35-38页 |
| 3.2.3 图像处理结果比较 | 第38-41页 |
| 3.3 被检对象尺寸识别 | 第41-46页 |
| 3.3.1 长度识别 | 第41页 |
| 3.3.2 截面尺寸识别 | 第41-46页 |
| 3.4 误差分析 | 第46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 被检对象密度信息研究 | 第47-69页 |
| 4.1 透照图像中重叠效应的去除 | 第47-53页 |
| 4.1.1 问题简化 | 第47-48页 |
| 4.1.2 数学模型 | 第48-50页 |
| 4.1.3 实验验证 | 第50-53页 |
| 4.2 X射线技术物质识别方法 | 第53-58页 |
| 4.2.1 有效原子序数 | 第53-55页 |
| 4.2.2 密度信息 | 第55-58页 |
| 4.3 被检对象密度值计算 | 第58-64页 |
| 4.3.1 质量吸收系数的测定 | 第58-61页 |
| 4.3.2 建立参数表 | 第61-62页 |
| 4.3.3 透射厚度计算 | 第62页 |
| 4.3.4 实验验证 | 第62-64页 |
| 4.4 被检对象密度特征值计算 | 第64-67页 |
| 4.4.1 构建密度特征值数据库 | 第64-66页 |
| 4.4.2 实验验证 | 第66-67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 第5章 结论与展望 | 第69-71页 |
| 5.1 结论 | 第69-70页 |
| 5.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
