| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 符号说明 | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第11-14页 |
| 1.1.1 RFID技术概述 | 第11-12页 |
| 1.1.2 RFID技术发展现状 | 第12-13页 |
| 1.1.3 标签性能测试系统的需求 | 第13-14页 |
| 1.2 论文研究意义 | 第14-15页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第15页 |
| 1.4 论文的内容安排 | 第15-16页 |
| 第二章 RFID阅读器标签通信原理和标准 | 第16-24页 |
| 2.1 RFID阅读器标签通信原理 | 第16-19页 |
| 2.1.1 RFID标签与阅读器的交互过程 | 第17页 |
| 2.1.2 后向散射 | 第17-19页 |
| 2.2 高频和超高频RFID标准 | 第19-22页 |
| 2.2.1 RFID高频段的标准 | 第19-21页 |
| 2.2.2 RFID超高频段的标准 | 第21-22页 |
| 2.3 RFID高频标签性能测试实例 | 第22-23页 |
| 2.4 RFID超高频标签性能测试实例 | 第23-24页 |
| 第三章 RFID标签性能测试方法和系统设计框架 | 第24-29页 |
| 3.1 RFID标签性能测试方法 | 第24-27页 |
| 3.1.1 信号监听方法 | 第24-25页 |
| 3.1.2 标签仿真测试方法 | 第25-26页 |
| 3.1.3 激励响应式测试方法 | 第26-27页 |
| 3.2 标签性能测试方案 | 第27页 |
| 3.3 RFID标签性能测试系统总体设计框架 | 第27-29页 |
| 第四章 RFID标签性能测试系统的硬件组成和设计方法 | 第29-41页 |
| 4.1 天线和环形耦合器的设计 | 第29-31页 |
| 4.1.1 天线的设计 | 第29-30页 |
| 4.1.2 环路耦合器的作用 | 第30-31页 |
| 4.2 射频前端的设计 | 第31-33页 |
| 4.2.1 高频射频前端 | 第31-32页 |
| 4.2.2 超高频射频前端 | 第32-33页 |
| 4.3 高速数字信号处理设计 | 第33-37页 |
| 4.3.1 Xilinx Zynq平台 | 第33-35页 |
| 4.3.2 前端模块通信程序 | 第35-37页 |
| 4.4 PCIe高速数字传输的设计 | 第37-41页 |
| 4.4.1 PCI9054电路设计 | 第37-38页 |
| 4.4.2 PCI驱动程序开发 | 第38-41页 |
| 第五章 RFID标签性能测试软件算法和性能分析方法 | 第41-62页 |
| 5.1 RFID高频标签性能测试算法和软件分析 | 第41-51页 |
| 5.1.1 高频标签链路参数设置 | 第42-43页 |
| 5.1.2 高频阈值测量 | 第43-48页 |
| 5.1.3 标签阻抗参数测量 | 第48-51页 |
| 5.2 RFID超高频标签性能测试算法和软件分析 | 第51-62页 |
| 5.2.1 实时IQ信号 | 第52页 |
| 5.2.2 超高频阈值测量 | 第52-57页 |
| 5.2.3 后向散射参数测量 | 第57-58页 |
| 5.2.4 天线方向性测量 | 第58-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 攻读硕士期间参与的工程项目和发表的论文 | 第69-70页 |
| 附件 | 第70页 |