摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
·现代电力电子技术概述与开关电源技术的发展现状 | 第9-11页 |
·磁性元器件在开关电源中的作用和地位 | 第11-13页 |
·本课题研究的意义和主要内容 | 第13-16页 |
·高频磁性元器件损耗分析的意义 | 第14页 |
·电感温升电流测量装置研究的意义 | 第14页 |
·本课题研究的主要内容 | 第14-16页 |
第二章 高频磁性元器件的损耗分析 | 第16-30页 |
·高频磁性元器件损耗的来源 | 第17-19页 |
·磁芯损耗产生的机理分析 | 第17-18页 |
·磁滞损耗 | 第17页 |
·涡流损耗 | 第17-18页 |
·剩余损耗 | 第18页 |
·绕组损耗产生的机理分析 | 第18-19页 |
·集肤效应 | 第18-19页 |
·邻近效应 | 第19页 |
·高频磁性元器件损耗的定量分析 | 第19-27页 |
·磁芯损耗的定量分析 | 第19-23页 |
·正弦激励波形下的磁芯损耗分析 | 第20页 |
·非正弦波激励下的磁芯损耗分析 | 第20-23页 |
·绕组损耗的定量分析 | 第23-27页 |
·Dowell 变换法绕组损耗计算模型 | 第23-26页 |
·贝塞尔函数法绕组损耗计算模型 | 第26-27页 |
·高频磁性元器件损耗与温升的关系 | 第27-29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
第三章 电感温升电流测量装置的研究 | 第30-55页 |
·电感温升电流测量装置的功能与硬件组成 | 第31-32页 |
·电感温升电流测量装置的硬件设计 | 第32-44页 |
·恒流源 | 第32页 |
·采样单元 | 第32-39页 |
·电流采样单元 | 第32-35页 |
·电压采样单元 | 第35-37页 |
·温度采样单元 | 第37-39页 |
·显示单元 | 第39-40页 |
·串行通信单元 | 第40-41页 |
·环路反馈控制单元 | 第41页 |
·电感测试平台 | 第41-44页 |
·电感温升测量装置的软件设计 | 第44-54页 |
·系统数据预处理—数字滤波 | 第44-47页 |
·基本数字滤波方法 | 第45页 |
·改进的滤波方法 | 第45-47页 |
·系统控制算法设计 | 第47-50页 |
·装置其余单元的软件设计 | 第50-54页 |
·信号采样单元 | 第50-51页 |
·显示单元 | 第51-52页 |
·RS232 串行通信单元 | 第52-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第四章 实验结果分析 | 第55-62页 |
·系统各采样单元测量分辨率与误差分析 | 第55-58页 |
·电流采样单元分析 | 第55-56页 |
·电压采样单元分析 | 第56-57页 |
·温度采样单元分析 | 第57-58页 |
·系统测量数据及其分析 | 第58-61页 |
·电感端电压、温升以及温升电流随时间测量的变化曲线 | 第58-59页 |
·电感温升与温升电流的关系曲线 | 第59-60页 |
·电感温升与损耗的关系曲线 | 第60页 |
·电感绕组阻值随电流的变化曲线 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第五章 工作总结与展望 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
个人简历 | 第67页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第67页 |