| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-26页 |
| 本章提要 | 第11页 |
| ·研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·加速寿命试验技术发展现状和趋势 | 第12-21页 |
| ·加速寿命试验技术发展现状 | 第12-19页 |
| ·加速寿命试验技术存在的问题和发展趋势 | 第19-21页 |
| ·数控系统开关电源可靠性测评研究的现状与存在的问题 | 第21-23页 |
| ·本文研究目标及内容 | 第23-26页 |
| ·本文研究目标 | 第23页 |
| ·本文研究内容 | 第23-26页 |
| 第2章 数控系统开关电源的环境效应与故障机理分析 | 第26-42页 |
| 本章提要 | 第26页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·数控系统开关电源的工作原理和工作环境 | 第26-31页 |
| ·数控系统开关电源的组成和工作原理 | 第26-30页 |
| ·数控系统开关电源的工作环境 | 第30-31页 |
| ·数控系统开关电源的环境效应分析 | 第31-39页 |
| ·电容的环境效应分析 | 第31-33页 |
| ·电阻的环境效应分析 | 第33-34页 |
| ·电感的环境效应分析 | 第34-35页 |
| ·PN 结的环境效应分析 | 第35-36页 |
| ·封装结构的环境效应分析 | 第36-38页 |
| ·印刷电路板的环境效应分析 | 第38-39页 |
| ·数控系统开关电源的故障机理分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 数控系统开关电源加速寿命试验方法 | 第42-53页 |
| 本章提要 | 第42页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·数控系统开关电源故障模式分析 | 第42-43页 |
| ·数控系统开关电源加速试验应力选择 | 第43-45页 |
| ·数控系统开关电源加速应力的施加方式 | 第45-49页 |
| ·数控系统开关电源加速寿命试验技术 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第4章 数控系统开关电源加速寿命试验的统计分析方法 | 第53-67页 |
| 本章提要 | 第53页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·数控系统开关电源加速寿命试验的统计分析模型 | 第53-57页 |
| ·加速寿命试验的基本假设 | 第53-55页 |
| ·加速寿命试验的统计分析模型 | 第55-57页 |
| ·寿命分布的统计推断 | 第57-61页 |
| ·加速系数的定义与计算 | 第57-58页 |
| ·寿命分布的统计推断 | 第58-61页 |
| ·可靠寿命的计算方法 | 第61-62页 |
| ·故障概率的计算方法 | 第62-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 数控系统开关电源加速寿命试验方案设计 | 第67-76页 |
| 本章提要 | 第67页 |
| ·引言 | 第67页 |
| ·数控系统开关电源可靠性试验平台的设计 | 第67-69页 |
| ·数控系统开关电源工作性能摸底测试 | 第69-72页 |
| ·数控系统开关电源加速寿命试验方案设计 | 第72-75页 |
| ·试验剖面设计 | 第72-73页 |
| ·实施方案设计 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第6章 数控系统开关电源加速寿命试验数据的统计分析 | 第76-100页 |
| 本章提要 | 第76页 |
| ·引言 | 第76页 |
| ·数控系统开关电源加速寿命试验结果的分析 | 第76-84页 |
| ·数控系统开关电源故障现象的分析 | 第76-82页 |
| ·数控系统开关电源故障机理验证 | 第82-84页 |
| ·数控系统加速寿命试验数据的统计推断 | 第84-91页 |
| ·寿命分布的统计推断 | 第84-86页 |
| ·寿命分布参数的估计 | 第86-88页 |
| ·寿命分布的拟合优度检验 | 第88-91页 |
| ·数控系统开关电源可靠寿命的估计 | 第91-95页 |
| ·可靠寿命的点估计 | 第91-93页 |
| ·可靠寿命的区间估计 | 第93-95页 |
| ·数控系统开关电源故障概率的统计计算 | 第95-97页 |
| ·数控系统开关电源可靠性的评价 | 第97-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第7章 总结与展望 | 第100-102页 |
| ·总结 | 第100页 |
| ·展望 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-116页 |
| 攻读博士学位期间获得的科研成果 | 第116-117页 |
| 致谢 | 第117页 |
