基于FPGA的高精度EAS检测系统的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·EAS 检测仪国内外研究现状与发展 | 第11-12页 |
| ·论文结构及内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 高精度 EAS 测试仪工作原理 | 第14-24页 |
| ·EAS 电子标签测试仪工作原理 | 第14页 |
| ·射频（RF）电子标签内部结构分析 | 第14-17页 |
| ·射频（RF）电子标签检测原理分析 | 第17-19页 |
| ·互感耦合原理 | 第17-18页 |
| ·EAS 电子标签的有效容积 Veff | 第18-19页 |
| ·频率合成技术 | 第19-21页 |
| ·频率合成技术指标 | 第19-20页 |
| ·数字频率合成器 DDS 工作原理 | 第20-21页 |
| ·离散信号的傅里叶分析 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 系统整体设计和模拟前端设计 | 第24-33页 |
| ·系统整体设计 | 第24-25页 |
| ·天线的设计 | 第25-28页 |
| ·传感器天线的基本原理 | 第25-28页 |
| ·传感器天线的硬件设计 | 第28页 |
| ·信号放大器的设计 | 第28-31页 |
| ·DDS 信号源电路设计 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 数字基带信号处理硬件设计 | 第33-41页 |
| ·微处理器的选型 | 第33-34页 |
| ·微处理器硬件电路设计 | 第34-40页 |
| ·电源电路 | 第34-35页 |
| ·FPGA 配置电路 | 第35-36页 |
| ·串行接口硬件电路 | 第36-37页 |
| ·AD 采样电路 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 数字基带信号处理软件设计 | 第41-61页 |
| ·软件总体设计 | 第41-46页 |
| ·信号源驱动程序的设计 | 第46-50页 |
| ·锁相环 PLL 的设计 | 第50-51页 |
| ·高速 AD 采样驱动程序的设计 | 第51-57页 |
| ·粗采样模块 ad | 第53-55页 |
| ·细采样模块 ad1 | 第55-57页 |
| ·高速串口驱动程序的设计 | 第57-60页 |
| ·串口数据接收模块 | 第57-58页 |
| ·串口数据发送模块 | 第58-60页 |
| ·波特率设置模块 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 上位机应用软件设计 | 第61-70页 |
| ·LABVIEW 简介 | 第61-63页 |
| ·虚拟仪器 | 第61-62页 |
| ·虚拟仪器软件设计开发平台——LABVIEW | 第62页 |
| ·LABVIEW 的主要特点 | 第62-63页 |
| ·LABVIEW 的开发环境 | 第63-64页 |
| ·LABVIEW 前面板设计窗口 | 第63-64页 |
| ·LABVIEW 程序框图设计窗口 | 第64页 |
| ·图标/连接端口 | 第64页 |
| ·上位机整体设计 | 第64-69页 |
| ·串口通信模块的设计 | 第66-68页 |
| ·数据处理分析模块的设计 | 第68-69页 |
| ·循环扫描模块的设计 | 第69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 系统测试 | 第70-80页 |
| ·传感器天线的测试 | 第70-71页 |
| ·放大器测试 | 第71-72页 |
| ·信号源 DDS 测试 | 第72-73页 |
| ·AD 采样模块测试 | 第73-75页 |
| ·串口通信模块测试 | 第75-76页 |
| ·系统整体调试 | 第76-78页 |
| ·设备整体效果 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第八章 总结和展望 | 第80-82页 |
| ·总结 | 第80-81页 |
| ·展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 附录 | 第86-87页 |
| 详细摘要 | 第87-90页 |
