| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外发展状况 | 第8-11页 |
| ·国外发展状况 | 第8-10页 |
| ·国内发展状况 | 第10-11页 |
| ·本文研究内容 | 第11-13页 |
| ·本文内容概述 | 第11页 |
| ·论文结构 | 第11-13页 |
| 第二章 集成成像计算仿真与采样特性 | 第13-23页 |
| ·集成成像技术基本原理与系统结构 | 第13-14页 |
| ·计算集成成像技术 | 第14-17页 |
| ·体重构过程的分析与仿真 | 第17-22页 |
| ·面面重构方式 | 第17-18页 |
| ·点到点直接像素映射重构方式 | 第18-20页 |
| ·两种体重构方式的仿真实验 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 虚拟弯曲透镜阵列集成成像分辨率提高方法 | 第23-41页 |
| ·弯曲透镜阵列集成成像系统 | 第23-31页 |
| ·弯曲透镜阵列集成成像系统 | 第23-28页 |
| ·虚拟弯曲透镜阵列集成成像系统 | 第28-29页 |
| ·VCII 系统观看视场角分析 | 第29-31页 |
| ·VCII 系统记录和重构过程分析 | 第31-35页 |
| ·利用 ABCD 矩阵对 VCII 系统进行光路追迹 | 第31-32页 |
| ·系统的采样率 Sr | 第32-34页 |
| ·传统 II 与 VCII 的采样率比较 | 第34-35页 |
| ·仿真试验与分析 | 第35-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 基于微扫描的集成成像分辨率提高方法 | 第41-61页 |
| ·时间复用集成成像方法 | 第41-43页 |
| ·微扫描技术 | 第43-49页 |
| ·微扫描原理 | 第43-46页 |
| ·微扫描基本过程 | 第46-49页 |
| ·基于微扫描的集成成像过程 | 第49-59页 |
| ·基于微扫描的集成成像特性分析 | 第49-52页 |
| ·基于微扫描的集成成像过程仿真 | 第52-55页 |
| ·不同微扫描模式下的集成成像记录与重构仿真分析 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 计算集成成像重构优化方法研究 | 第61-77页 |
| ·像素映射与插值的计算重构方法 | 第61-63页 |
| ·两种典型的计算重构方法 | 第61-62页 |
| ·基于 DPM 重构图像的插值方法 | 第62-63页 |
| ·计算集成成像重构插补方法研究 | 第63-72页 |
| ·邻域插补的离散黑点消除方法 | 第63-67页 |
| ·双向插补的黑栅消除方法 | 第67-69页 |
| ·仿真实验与分析 | 第69-72页 |
| ·微扫描与双向插补相结合的计算重构方法讨论 | 第72-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第六章 总结 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 在读期间研究成果 | 第85-86页 |