石英晶片表面在线缺陷检测算法研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·机器视觉 | 第11-12页 |
| ·数字图像处理技术 | 第12页 |
| ·产品的外观检测 | 第12-13页 |
| ·基于机器视觉的外观检测 | 第13-14页 |
| ·视觉检测技术的应用 | 第13页 |
| ·视觉检测的意义 | 第13-14页 |
| ·论文内容及创新点 | 第14-18页 |
| ·国内外现状 | 第14-15页 |
| ·研究意义 | 第15-16页 |
| ·论文创新点 | 第16-17页 |
| ·论文结构与内容 | 第17-18页 |
| 第二章 基于图像分析的检测技术 | 第18-24页 |
| ·图像分析技术 | 第18-19页 |
| ·石英晶片简介 | 第19-22页 |
| ·石英晶片 | 第19-20页 |
| ·石英晶片的制作流程 | 第20-21页 |
| ·石英晶振的原理及应用 | 第21-22页 |
| ·项目目标 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 全自动石英晶片外观分选机的综述 | 第24-44页 |
| ·外观分选机的模块 | 第24-26页 |
| ·分选机的模块划分 | 第24-25页 |
| ·外观分选机的工作流程 | 第25-26页 |
| ·外观分选机的机械运动模块 | 第26-31页 |
| ·外观分选机的机构组成 | 第26-27页 |
| ·各机构的介绍 | 第27-31页 |
| ·外观分选机的电气传动模块 | 第31-32页 |
| ·外观分选机的图像处理模块 | 第32-37页 |
| ·图像处理模块的分类 | 第32页 |
| ·晶片的缺陷特征 | 第32-35页 |
| ·晶片表面缺陷检测 | 第35-37页 |
| ·外观分选机的软件控制模块 | 第37-43页 |
| ·软件控制模块的主界面 | 第37-38页 |
| ·软件控制模块的调整界面 | 第38-41页 |
| ·软件控制模块的参数调整界面 | 第41-42页 |
| ·软件控制模块的运行界面 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 石英晶片的分类与标定 | 第44-65页 |
| ·滚边程度的晶片分类及自动标定 | 第44-51页 |
| ·石英晶片的滚边 | 第44页 |
| ·石英晶片依滚边程度的种类以及分类的必要性 | 第44-45页 |
| ·曲线的曲率半径 | 第45-47页 |
| ·图像的旋转 | 第47-48页 |
| ·基于曲率半径的石英晶片倒角标定 | 第48-51页 |
| ·边缘精确拟合的分类 | 第51-55页 |
| ·HOUGH变换 | 第51-52页 |
| ·边缘的精确拟合及分类 | 第52-55页 |
| ·曝光量的自动标定 | 第55-62页 |
| ·相机的曝光量 | 第55页 |
| ·曝光量与图像之间的关系 | 第55-57页 |
| ·轮廓跟踪填充 | 第57-59页 |
| ·基于区域检测曝光量的自动标定算法 | 第59-62页 |
| ·晶片内部特征的分类 | 第62-64页 |
| ·晶片的内部结构表现 | 第62-63页 |
| ·石英晶片的内部分类 | 第63-64页 |
| ·本章总结 | 第64-65页 |
| 第五章 石英晶片的检测算法 | 第65-116页 |
| ·缺陷的矢量描述与定量识别 | 第65-71页 |
| ·缺陷的物理矢量与图像定量 | 第65-66页 |
| ·缺陷的图像描述 | 第66-68页 |
| ·缺陷定量识别参数与放大率之间的联系 | 第68-71页 |
| ·晶片定位检测 | 第71-76页 |
| ·定位检测的坐标转换 | 第71-73页 |
| ·定位检测的设计方案 | 第73-76页 |
| ·基于面积判定的缺角不良 | 第76-80页 |
| ·石英晶片的角落区域 | 第77-78页 |
| ·基于面积判定的缺角不良检测算法设计 | 第78-79页 |
| ·算法验证及效果展示 | 第79-80页 |
| ·倒角程度不同的角落检测 | 第80-100页 |
| ·基于直方图统计的直角类晶片检测 | 第80-84页 |
| ·基于对称镜点的最短距离的微倒类晶片检测 | 第84-87页 |
| ·基于曲线拟合的大倒类晶片缺损类检测 | 第87-96页 |
| ·基于矩形差分的大倒类晶片亮点检测 | 第96-99页 |
| ·角落区域检测算法的验证 | 第99-100页 |
| ·基于九宫格色度对比的片内色差检测 | 第100-105页 |
| ·腐蚀不均与脏污缺陷的区别 | 第101页 |
| ·腐蚀不均缺陷描述 | 第101-102页 |
| ·九宫格图像分割 | 第102-104页 |
| ·基于九宫格对称判定的片内色差检测方案设计 | 第104-105页 |
| ·晶片脏污检测 | 第105-115页 |
| ·脏污的缺陷描述 | 第105-106页 |
| ·数理统计分析 | 第106-107页 |
| ·直方图均衡化的优化 | 第107-111页 |
| ·腐蚀与膨胀 | 第111-114页 |
| ·脏污检测的方案设计及算法验证 | 第114-115页 |
| ·本章小结 | 第115-116页 |
| 第六章 总结和展望 | 第116-119页 |
| ·总结 | 第116-117页 |
| ·展望 | 第117-119页 |
| 附录 | 第119-137页 |
| 参考文献 | 第137-140页 |
| 作者简介 | 第140页 |
