摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-13页 |
第一章 绪论 | 第13-27页 |
·硬盘磁记录的历史 | 第13-15页 |
·硬盘磁记录介质的关键要求 | 第15-16页 |
·提高垂直记录介质记录密度的主要方法 | 第16-20页 |
·热辅助记录 | 第16-17页 |
·图形化介质 | 第17-19页 |
·交换耦合介质 | 第19-20页 |
·当代垂直磁记录介质面临的挑战 | 第20-24页 |
·垂直磁记录介质的类别 | 第20-22页 |
·CoCrPt 垂直记录记录介质的局限 | 第22-23页 |
·hcp-CoPt 垂直记录记录介质研究初步 | 第23-24页 |
·选题依据及研究内容 | 第24-25页 |
·选题依据 | 第24-25页 |
·研究内容 | 第25页 |
·论文提纲 | 第25-27页 |
第二章 实验方法和表征技术 | 第27-37页 |
·样品制备方法 | 第27-28页 |
·样品表征技术和设备 | 第28-37页 |
·X 射线能谱仪(EDS) | 第28-29页 |
·X 射线衍射仪(XRD) | 第29-30页 |
·透射线电子显微镜(TEM) | 第30-31页 |
·振动样品磁强计(VSM) | 第31-33页 |
·交变梯度磁强计(AGFM) | 第33-35页 |
·超导量子磁强计(SQUID) | 第35-36页 |
·磁光克尔效应仪(MOKE) | 第36-37页 |
第三章 诱导层对CoPt 记录介质的微结构和磁性能的影响 | 第37-60页 |
·实验 | 第37-38页 |
·结果与讨论 | 第38-59页 |
·制备条件对底层Ru 织构的影响 | 第38-39页 |
·制备条件对无Si0_2 顶层Ru 织构的影响 | 第39-40页 |
·制备条件对Ru-Si0_2 层微结构的影响 | 第40-46页 |
·Ru-Si0_2 层制备条件对CoPt 层微结构的影响 | 第46-51页 |
·Ru-Si0_2 层制备条件对CoPt 层磁性能的影响 | 第51-59页 |
·小结 | 第59-60页 |
第四章 Pt 含量对C0_(100-x)Pt_x颗粒膜的微结构和磁性能的影响 | 第60-67页 |
·实验 | 第60页 |
·结果与讨论 | 第60-65页 |
·Pt 含量对C0_(100-x)Pt_x 膜微结构的影响 | 第60-62页 |
·Pt 含量对C0_(100-x)Pt_x 膜磁性能的影响 | 第62-65页 |
·小结 | 第65-67页 |
第五章 C0_(100-x)Pt_x/C0_(71)Pt_(19)交换耦合双层记录介质 | 第67-83页 |
·实验 | 第67页 |
·结果与讨论 | 第67-81页 |
·软磁层厚度和各向异性对ECC 微结构的影响 | 第67-70页 |
·软磁层厚度和各向异性对ECC 磁性能的影响 | 第70-79页 |
·软/硬磁层界面交换耦合强度对ECC 磁性能的影响 | 第79-81页 |
·小结 | 第81-83页 |
第六章 CoPtRu 单层和多层颗粒膜的制备和磁性能研究 | 第83-96页 |
·实验 | 第83页 |
·结果与讨论 | 第83-95页 |
·CoPtRu 单层膜的微结构和磁性能 | 第83-86页 |
·[C0_(72)Pt_(28)]_(1-x)Ru_x/C0_(72)Pt_(28) 双层膜的微结构和磁性能 | 第86-91页 |
·C0_(72)Pt_(28) 多层膜的微结构和磁性能 | 第91-95页 |
·小结 | 第95-96页 |
第七章 交换耦合记录介质的微磁学研究 | 第96-123页 |
·引言 | 第96页 |
·微磁学理论简介 | 第96-103页 |
·基本能量 | 第97-101页 |
·能量最小化 | 第101-102页 |
·动态方程 | 第102-103页 |
·微磁学模型 | 第103-104页 |
·结果与讨论 | 第104-122页 |
·软磁层厚度对ECC 磁性能的影响 | 第104-111页 |
·软/硬磁界面交换耦合强度对ECC 磁性能的影响 | 第111-118页 |
·ECC 颗粒之间交换耦合强度对ECC 磁性能的影响 | 第118-122页 |
·小结 | 第122-123页 |
第八章 总结与展望 | 第123-127页 |
·论文工作总结 | 第123-125页 |
·论文工作的主要创新点 | 第125页 |
·论文工作展望 | 第125-127页 |
致谢 | 第127-129页 |
参考文献 | 第129-136页 |
攻博期间取得的研究成果 | 第136-137页 |