高压下ZnTe和ZnSe的电输运性质研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-18页 |
| ·高压物理学简介 | 第10-11页 |
| ·高压物理学的研究内容 | 第10页 |
| ·高压产生装置的发展概况 | 第10-11页 |
| ·高压原位电学性质研究简介 | 第11-12页 |
| ·基于 DAC 的原位电学测量方法 | 第12-16页 |
| ·直流电阻率测量方法 | 第12-13页 |
| ·交流阻抗谱测量方法 | 第13-16页 |
| ·论文选题的目的和意义 | 第16-17页 |
| ·论文各部分的内容 | 第17-18页 |
| 第二章 基于 DAC 的电学原位测量方法 | 第18-23页 |
| ·van der Pauw 电极的制备过程 | 第18-19页 |
| ·双电极的制备过程 | 第19-20页 |
| ·测量微电路在金刚石压砧上的制备工艺 | 第20-22页 |
| ·金属钼电极的溅射 | 第20-21页 |
| ·金属钼电极的图形化 | 第21-22页 |
| ·氧化铝绝缘保护层的制备 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 ZnTe 的高压电学性质研究 | 第23-33页 |
| ·ZnTe 研究背景 | 第23-26页 |
| ·ZnTe 原位高压电学性质研究 | 第26-32页 |
| ·不同尺寸 ZnTe 的阻抗谱随压力的变化关系 | 第28-31页 |
| ·不同尺寸 ZnTe 的电阻率随压力的变化 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 ZnSe 的高压电学性质研究 | 第33-46页 |
| ·ZnSe 研究背景 | 第33-34页 |
| ·ZnSe 原位高压电学测量结果 | 第34-44页 |
| ·不同尺寸的ZnSe 的阻抗谱随压力的变化 | 第36-43页 |
| ·ZnSe 样品的电阻率随压力的变化 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 总结 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-54页 |
| 作者简介 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |