| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·随机表面的描述和表面参数的物理意义 | 第11-14页 |
| ·散射与散斑场 | 第14-16页 |
| ·表面等离子体激元的基本理论 | 第16-19页 |
| ·金属的色散特性与表面等离子体激元的特征长度 | 第19-23页 |
| ·金属的色散特性 | 第19-22页 |
| ·表面等离子体激元传播的特征长度 | 第22-23页 |
| ·本文的主要内容 | 第23-25页 |
| 第二章 利用扫描光纤探针从菲涅耳深区散斑场中提取表面参数 | 第25-37页 |
| ·引言 | 第25-26页 |
| ·菲涅耳深区散斑强度自相关函数同表面高度的定量关系 | 第26-28页 |
| ·基于扫描光纤探针探测系统与菲涅耳深区散斑测量实验 | 第28-31页 |
| ·扫描光纤探针探测系统 | 第28-30页 |
| ·菲涅耳深区散斑测量实验 | 第30-31页 |
| ·随机表面参数的提取与结果分析 | 第31-35页 |
| ·提取随机表面参数 | 第31-33页 |
| ·原子力显微镜分析散射屏样品表面的结果 | 第33-34页 |
| ·实验结果分析 | 第34-35页 |
| ·总结 | 第35-37页 |
| 第三章 逆问题算法设计半径调制的圆形狭缝操纵表面等离子体激元 | 第37-47页 |
| ·引言 | 第37-38页 |
| ·GERCHBERG-SAXTON算法 | 第38-39页 |
| ·设计半径调制的圆环形狭缝 | 第39-43页 |
| ·圆环狭缝的相位分布 | 第39-40页 |
| ·圆环调制操纵表面等离子体激元 | 第40-42页 |
| ·Huygens-Fresnel 原理计算 SPPs 场 | 第42-43页 |
| ·圆环调制方法的讨论 | 第43-45页 |
| ·总结 | 第45-47页 |
| 第四章 基于电动平移台的二维光学图像采集系统 | 第47-53页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·系统的设计和硬件组成 | 第47-48页 |
| ·系统开发与控制程序的设计 | 第48-49页 |
| ·系统的测试 | 第49-51页 |
| ·结论 | 第51-53页 |
| 第五章 总结及展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的文章 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录 | 第64-78页 |
