| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·课题研究背景 | 第7页 |
| ·频率合成技术的发展 | 第7-11页 |
| ·本论文的内容安排 | 第11-13页 |
| 第二章 铜电阻测试仪的框架结构及 DDS 基本原理 | 第13-23页 |
| ·铜电阻测试仪的框架结构 | 第13-14页 |
| ·DDS 的基本原理及结构 | 第14-17页 |
| ·DDS 的杂散来源 | 第17-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 系统控制及DDS 的设计 | 第23-33页 |
| ·整体设计框图 | 第23-24页 |
| ·控制模块 | 第24-25页 |
| ·键盘 | 第24-25页 |
| ·显示模块 | 第25页 |
| ·DDS 模块 | 第25-29页 |
| ·SPI 接口 | 第26-27页 |
| ·相位累加器 | 第27-28页 |
| ·查找表 ROM 模块 | 第28-29页 |
| ·波形选择器 | 第29页 |
| ·D/A 转换模块 | 第29页 |
| ·低通滤波器模块 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第四章 系统的具体实现 | 第33-49页 |
| ·控制模块设计 | 第33-35页 |
| ·DDS 模块设计 | 第35-44页 |
| ·PLL 模块设计 | 第37-38页 |
| ·SPI 接口模块设计 | 第38-39页 |
| ·相位累加器设计 | 第39-41页 |
| ·查找表 ROM 模块设计 | 第41-43页 |
| ·波形选择器设计 | 第43-44页 |
| ·D/A 转换设计 | 第44-47页 |
| ·低通滤波器设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 系统仿真与验证 | 第49-61页 |
| ·系统仿真与验证的软硬件环境 | 第49-51页 |
| ·软件开发平台 | 第49-50页 |
| ·基于 FPGA 的硬件验证系统 | 第50-51页 |
| ·DDS 各模块验证 | 第51-57页 |
| ·SPI 接口模块的验证 | 第51-52页 |
| ·相位累加器的验证 | 第52-53页 |
| ·查找表 ROM 验证 | 第53-54页 |
| ·DDS 模块的 FPGA 整体验证 | 第54-57页 |
| ·系统验证 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第六章 总结 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |