基于虚拟仪器的引信时序电路测试系统的研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| ·课题背景及意义 | 第12页 |
| ·国内外研究概况 | 第12-15页 |
| ·引信技术的发展阶段 | 第12-13页 |
| ·引信技术的研究和趋势 | 第13-14页 |
| ·自动测试系统的研究概况 | 第14-15页 |
| ·课题概述 | 第15-20页 |
| ·系统的测试内容 | 第15-17页 |
| ·系统的技术指标 | 第17-18页 |
| ·系统方案设计步骤 | 第18-20页 |
| 第二章 测试系统方案设计原理 | 第20-38页 |
| ·虚拟仪器技术概述 | 第20-23页 |
| ·虚拟仪器的基本概念 | 第20-21页 |
| ·虚拟仪器系统构成 | 第21-22页 |
| ·虚拟仪器的特点 | 第22-23页 |
| ·自动测试系统（ATS） | 第23-24页 |
| ·系统总体方案设计 | 第24-38页 |
| ·系统开发技术的选择 | 第24-26页 |
| ·系统硬件方案设计 | 第26-33页 |
| ·系统软件方案设计 | 第33-38页 |
| 第三章 测试系统硬件设计 | 第38-52页 |
| ·系统的硬件组成 | 第38-41页 |
| ·电源部分设计 | 第41-48页 |
| ·电源部分组成 | 第41页 |
| ·多路供电控制阵列组成 | 第41-42页 |
| ·CPLD 核心控制电路 | 第42-44页 |
| ·继电器阵列 | 第44-45页 |
| ·电压调理电路 | 第45页 |
| ·电流调理及过流保护电路 | 第45-48页 |
| ·JTAG 调试接口 | 第48-49页 |
| ·板卡通道定义 | 第49-51页 |
| ·基地址的设置 | 第49-50页 |
| ·模拟输入信号接口 | 第50页 |
| ·模拟输入信号输入范围控制寄存器 | 第50页 |
| ·通道定义 | 第50-51页 |
| ·产品脉冲的模拟输出 | 第51-52页 |
| 第四章 测试系统软件设计 | 第52-77页 |
| ·测试设备软件设计概述 | 第52-53页 |
| ·主功能模块及界面设计 | 第53-68页 |
| ·软件工作主流程 | 第54-56页 |
| ·电压拉偏测试 | 第56-59页 |
| ·温度循环梯度测试 | 第59-63页 |
| ·振动测试 | 第63-64页 |
| ·模块测试 | 第64页 |
| ·单步测试 | 第64-65页 |
| ·系统校准 | 第65-67页 |
| ·测量值补偿设置 | 第67页 |
| ·测量参数设置 | 第67-68页 |
| ·密码设置 | 第68页 |
| ·子功能模块设计和实现 | 第68-77页 |
| ·高速测试通道切换阵列控制模块 | 第68-69页 |
| ·多路供电切换阵列控制及电压电流采集模块 | 第69-70页 |
| ·示波器通信和控制模块 | 第70-73页 |
| ·快速温变箱通信模块 | 第73页 |
| ·测试结果的保存、显示、制表和打印模块 | 第73-77页 |
| 第五章 系统调试与校准 | 第77-82页 |
| ·系统研制开发过程 | 第77页 |
| ·测试系统调试和校准 | 第77-80页 |
| ·测试系统硬件调试 | 第77-78页 |
| ·测试系统软件调试 | 第78-79页 |
| ·整机联合现场 | 第79页 |
| ·测试数据 | 第79-80页 |
| ·测试设备的校准 | 第80页 |
| ·研制过程中出现的问题及解决情况 | 第80-82页 |
| 结束语 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 在学期间研究成果及发表学术论文 | 第86页 |
