| 第1章 绪论 | 第1-16页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·X射线及X射线光谱 | 第7-11页 |
| ·X射线微区分析的基本原理 | 第11-13页 |
| ·X射线微区分析在材料表面分析上的应用 | 第13-14页 |
| ·全反射薄膜微区分析的研究进展 | 第14-15页 |
| ·本文研究的主要内容和意义 | 第15-16页 |
| 第2章 外全反射角X射线能谱薄层微分析 | 第16-27页 |
| ·X射线的折射与折射率 | 第18-22页 |
| ·实验部分 | 第22-23页 |
| ·结果与讨论 | 第23-26页 |
| ·结论 | 第26-27页 |
| 第3章 外全反射X能谱薄层分析中的X射线强度研究 | 第27-39页 |
| ·实验部分 | 第28-29页 |
| ·结果与讨论 | 第29-38页 |
| ·结论 | 第38-39页 |
| 第4章 外全反射X射线能谱薄层分析在无机材料中的应用 | 第39-44页 |
| ·实验部分 | 第39-40页 |
| ·结果与讨论 | 第40-43页 |
| ·结论 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-47页 |
| 附录 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |