提要 | 第1-11页 |
第一章 绪论 | 第11-39页 |
·波分复用技术 | 第11-15页 |
·波分复用技术的发展 | 第11-12页 |
·波分复用技术的基本原理 | 第12页 |
·密集波分复用技术的特点 | 第12-13页 |
·波分复用/解复用器的种类 | 第13-15页 |
·阵列波导光栅(AWG)波分复用器件 | 第15-22页 |
·AWG 波分复用器的发展 | 第15-16页 |
·AWG 波分复用器的基本结构 | 第16-17页 |
·AWG 波分复用器的研究现状 | 第17页 |
·AWG 的性能及改进方法 | 第17-22页 |
·无机 AWG 波分复用/解复用器 | 第22-24页 |
·无机 AWG 的发展 | 第22-23页 |
·Si 基 SiO_2 AWG | 第23页 |
·SOI AWG | 第23-24页 |
·InP 基 AWG | 第24页 |
·聚合物 AWG 波分复用/解复用器 | 第24-29页 |
·聚合物 AWG 的发展 | 第24-25页 |
·聚合物氟代、氘代聚甲基丙烯酸酯 AWG | 第25-26页 |
·聚合物氟代聚酰亚胺 AWG | 第26-27页 |
·聚合物可交联含氟聚芳醚和聚芳硫醚 AWG | 第27-28页 |
·聚合物氘代、氟代聚硅氧烷 AWG | 第28-29页 |
·AWG 复用/解复用器的应用 | 第29-33页 |
·复用/解复用器 | 第29页 |
·波长路由器 | 第29-30页 |
·光分插复用器 | 第30-31页 |
·多波长光源 | 第31页 |
·波长选择器 | 第31-32页 |
·多波长接收器 | 第32页 |
·多信道均衡器 | 第32-33页 |
·可重构光分插复用器 | 第33页 |
·波谱响应平坦化 AWG | 第33-37页 |
·AWG 波谱响应平坦化研究现状 | 第33-34页 |
·多模干涉(MMI)输入 | 第34-35页 |
·多罗兰圆设计 | 第35-36页 |
·Kamalakis-Sphicopoulos 方法 | 第36页 |
·AWG 波分复用器波谱响应平坦化新方法 | 第36-37页 |
·本论文的主要工作及创新点 | 第37-39页 |
·本论文的主要工作 | 第37-38页 |
·主要创新点 | 第38-39页 |
第二章 阵列波导光栅(AWG)的基本理论 | 第39-57页 |
·光在对称三层平板波导中的传输 | 第39-43页 |
·对称三层平板波导的结构模型 | 第39-40页 |
·TE 导模的场分布函数、特征方程和传输功率 | 第40-42页 |
·TM 导模的场分布函数、特征方程和传输功率 | 第42-43页 |
·光在矩形波导中的传输 | 第43-47页 |
·对称三层平板波导的结构模型 | 第44-45页 |
·矩形波导的 E~y_(mn) 导模 | 第45-46页 |
·矩形波导的 E~x_(mn) 导模 | 第46-47页 |
·AWG 的基本原理 | 第47-51页 |
·罗兰圆工作原理 | 第47-48页 |
·AWG 工作原理 | 第48-49页 |
·光栅方程 | 第49-50页 |
·角色散方程 | 第50页 |
·自由光谱区(FSR) | 第50-51页 |
·波长分配原理 | 第51页 |
·AWG 的光传输特性 | 第51-53页 |
·输入平板波导中的衍射远场和功率分布 | 第51-52页 |
·输入平板波导的衍射效率 | 第52页 |
·输出平板波导中的衍射远场和功率分布 | 第52-53页 |
·输出平板波导的衍射效率 | 第53页 |
·传输光谱 | 第53页 |
·AWG 的损耗特性和串扰特性 | 第53-57页 |
·输入平板的衍射损耗 | 第53-54页 |
·输出平板的衍射损耗 | 第54页 |
·波导弯曲损耗 | 第54-55页 |
·串扰特性 | 第55-56页 |
·偏振相关性 | 第56页 |
·3-dB 带宽 | 第56-57页 |
第三章 波谱响应平坦化 AWG 的参数优化和版图设计 | 第57-90页 |
·常规型AWG 的参数优化 | 第57-63页 |
·常规型AWG 的基本结构 | 第57-58页 |
·信道波导及阵列波导的尺寸 | 第58-59页 |
·相邻波导的间距 | 第59-60页 |
·相邻阵列波导长度差、平板波导焦距和 FSR | 第60-61页 |
·信道波导数和阵列波导数 | 第61-62页 |
·常规型AWG 参数优化结果 | 第62-63页 |
·常规型AWG 传输性能分析 | 第63-73页 |
·输入平板波导中的衍射远场和功率分布 | 第63-64页 |
·输出平板波导中的衍射远场和功率分布 | 第64-66页 |
·传输光谱和自由光谱区 | 第66-68页 |
·2M+1 和d 对输出平板波导的衍射效率的影响 | 第68-69页 |
·m、d 和a 对串扰的影响 | 第69-71页 |
·偏振相关性分析 | 第71-73页 |
·3dB 带宽 | 第73页 |
·利用阵列波导宽度差方法改进 AWG 的波谱响应 | 第73-78页 |
·形成箱型波谱响应的阵列波导宽度差方法 | 第73页 |
·改进的阵列波导光栅的衍射远场 | 第73-74页 |
·宽度差的增量Δa 对自由光谱区的影响 | 第74-75页 |
·宽度差的增量Δa 对波谱响应的影响 | 第75-76页 |
·宽度差的增量Δa 对串扰性能的影响 | 第76页 |
·改进的AWG 的箱型波谱响应 | 第76-77页 |
·箱型波谱响应AWG 的参数优化 | 第77-78页 |
·利用阵列波导长度方法改进 AWG 的波谱响应 | 第78-83页 |
·形成箱型波谱响应的阵列波导长度差方法 | 第78页 |
·改进的阵列波导光栅的衍射远场 | 第78页 |
·长度差的增量δ(ΔL ) 对自由光谱区的影响 | 第78-80页 |
·长度差的增量δ(ΔL ) 对波谱响应的影响 | 第80-81页 |
·长度差的增量δ(ΔL ) 对串扰性能的影响 | 第81页 |
·改进的AWG 的箱型波谱响应 | 第81-82页 |
·箱型波谱响应AWG 的参数优化 | 第82-83页 |
·箱型波谱响应AWG 的版图设计 | 第83-90页 |
·阵列波导的几何参量 | 第83-86页 |
·信道波导的几何参量 | 第86-88页 |
·版图中波导曲线的坐标 | 第88页 |
·箱型波谱响应 AWG 的版图 | 第88-90页 |
第四章 波导弯曲和工艺误差对 AWG 传输特性的影响 | 第90-103页 |
·波导弯曲对 AWG 器件传输性能的影响 | 第90-94页 |
·弯曲对有效折射率的影响 | 第90-91页 |
·弯曲引起的相移 | 第91-92页 |
·弯曲引起的光谱漂移 | 第92-93页 |
·弯曲引起的串扰变化 | 第93-94页 |
·制作工艺误差对 AWG 器件传输性能的影响 | 第94-98页 |
·制作工艺误差引起的中心波长移动 | 第94-95页 |
·制作工艺误差对传输性能的影响 | 第95-97页 |
·制作工艺误差对串扰的影响 | 第97-98页 |
·制作工艺误差的累积和补偿 | 第98-103页 |
·工艺误差对波谱响应的累积效应 | 第98-99页 |
·工艺误差对串扰的累积效应 | 第99-100页 |
·工艺误差对波谱响应的补偿效应 | 第100-101页 |
·工艺误差对串扰的补偿效应 | 第101-103页 |
第五章 17 信道聚合物箱型波谱响应AWG 的实验制备 | 第103-130页 |
·氟化聚芳醚(FPE)聚合物特性 | 第103-110页 |
·氟化聚芳醚(FPE)材料的主要性能参数 | 第103-104页 |
·折射率特性 | 第104-106页 |
·传输损耗特性 | 第106-107页 |
·成膜性 | 第107-109页 |
·薄膜稳定性 | 第109-110页 |
·氟化聚芳醚聚合物 AWG 制备工艺 | 第110-121页 |
·聚合物 AWG 制作的技术 | 第110-112页 |
·制备聚合物波导薄膜的工艺要求 | 第112-114页 |
·反应离子刻蚀(RIE)技术的工艺流程 | 第114页 |
·聚合物 AWG 的制备过程 | 第114-117页 |
·聚合物 AWG 的端面抛光 | 第117-120页 |
·聚合物 AWG 器件的封装 | 第120-121页 |
·17 信道箱型波谱响 AWG 的性能测试 | 第121-126页 |
·聚合物AWG 器件的测试系统的搭建 | 第121-122页 |
·聚合物波导的传输损耗测试 | 第122-124页 |
·聚合物AWG 器件的近场模式光斑测试 | 第124页 |
·聚合物AWG 器件的光谱测试 | 第124-126页 |
·17 信道箱型波谱响 AWG 的特性分析 | 第126-130页 |
·聚合物AWG 器件的插入损耗分析 | 第126-128页 |
·聚合物AWG 器件的串扰分析 | 第128-130页 |
结论 | 第130-132页 |
参考文献 | 第132-144页 |
致谢 | 第144-145页 |
攻读博士学位期间发表的论文及科研成果 | 第145-148页 |
摘要 | 第148-150页 |
ABSTRACT | 第150-151页 |