XX相位控制及稳定系统研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-12页 |
| ·引言 | 第9页 |
| ·相位控制及稳定系统 | 第9-11页 |
| ·移相器 | 第9-10页 |
| ·鉴相器 | 第10-11页 |
| ·本工作研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 移相器原理与设计 | 第12-29页 |
| ·基本设计理论 | 第12-16页 |
| ·双平板变态同轴线 | 第12-13页 |
| ·多级阻抗变换 | 第13-16页 |
| ·多级阻抗变换的网络方程 | 第13页 |
| ·契比雪夫多项式 | 第13-14页 |
| ·契比雪夫阻抗变换器的设计方法 | 第14-16页 |
| ·移相器设计及仿真 | 第16-29页 |
| ·变态同轴线尺寸计算 | 第17页 |
| ·同轴-变态同轴线过渡 | 第17-19页 |
| ·介质绝缘子 | 第17-18页 |
| ·同轴-变态同轴线过渡 | 第18-19页 |
| ·移相介质片设计 | 第19-21页 |
| ·介质片材料的选择 | 第19-20页 |
| ·抑制高次模的产生 | 第20-21页 |
| ·介质片阶梯阻抗变换 | 第21-27页 |
| ·三级阶梯 | 第22-24页 |
| ·四级阶梯 | 第24-27页 |
| ·调节相移及步进 | 第27-28页 |
| ·插损仿真 | 第28-29页 |
| 第三章 鉴相器原理及设计 | 第29-42页 |
| ·鉴相器基本理论 | 第29-32页 |
| ·AD8302的性能特点 | 第29页 |
| ·AD8302的基本原理 | 第29-31页 |
| ·测量模式和比较模式 | 第31-32页 |
| ·AD8302测量模式 | 第31页 |
| ·AD8302比较模式 | 第31-32页 |
| ·鉴相器电路设计 | 第32-37页 |
| ·通道一致性 | 第32页 |
| ·输入端衰减器 | 第32-34页 |
| ·优化同轴—微带过渡 | 第34-37页 |
| ·带状线法 | 第35-36页 |
| ·AD1000基片测量 | 第36页 |
| ·同轴-微带过渡测试 | 第36-37页 |
| ·电路图及实物图 | 第37-38页 |
| ·性能测试 | 第38-40页 |
| ·输入反射测量 | 第38-39页 |
| ·鉴相性能测量 | 第39-40页 |
| ·结果讨论 | 第40-42页 |
| ·AD8302固有误差 | 第41页 |
| ·衰减器相移的不一致 | 第41-42页 |
| 第四章 系统整体测试 | 第42-48页 |
| ·测试方案 | 第42-46页 |
| ·移相开关组电路设计 | 第43页 |
| ·比较放大器电路设计 | 第43-45页 |
| ·测试要点 | 第45页 |
| ·测试步骤 | 第45-46页 |
| ·测试结果 | 第46-48页 |
| 第五章 结论 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 附录 | 第52-54页 |
| 在学期间的研究成果 | 第54页 |
