高可靠行波管结构分析技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-23页 |
| ·微波真空电子器件概述 | 第10-12页 |
| ·微波真空电子器件的发展历程 | 第10-12页 |
| ·微波真空电子器件的特点 | 第12页 |
| ·行波管概述 | 第12-16页 |
| ·行波管基本结构及工作原理 | 第13-14页 |
| ·行波管发展趋势 | 第14-16页 |
| ·行波管结构分析技术研究概述 | 第16-21页 |
| ·行波管可靠性概述 | 第16页 |
| ·影响行波管可靠性的因素与常见失效模式 | 第16-19页 |
| ·行波管可靠性进展 | 第19-20页 |
| ·行波管结构分析技术研究目的和意义 | 第20-21页 |
| ·本文主要内容及结构安排 | 第21-23页 |
| ·本论文主要工作 | 第21页 |
| ·本论文结构 | 第21-23页 |
| 第二章 行波管结构分析理论与技术构架 | 第23-36页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·可靠性的基本理论 | 第23-25页 |
| ·可靠性概念 | 第23-24页 |
| ·可靠性的量性指标 | 第24-25页 |
| ·行波管失效模式及机理 | 第25-29页 |
| ·应力与失效的关系 | 第25-27页 |
| ·行波管常见失效模式及原因 | 第27-29页 |
| ·行波管结构分析技术方法 | 第29-32页 |
| ·行波管结构分析的技术项目 | 第29-30页 |
| ·行波管结构分析技术流程 | 第30-31页 |
| ·结构分析的试验技术及相关仪器设备 | 第31-32页 |
| ·行波管结构分析工作流程 | 第32-36页 |
| ·器件分析工作流程的共性 | 第32-33页 |
| ·行波管结构分析工作流程 | 第33-36页 |
| 第三章 行波管结构分解 | 第36-48页 |
| ·引言 | 第36-37页 |
| ·行波管参数指标 | 第37-39页 |
| ·评价行波管技术性能的工作参数 | 第37-38页 |
| ·影响行波管可靠性的敏感应力参数 | 第38-39页 |
| ·高可靠行波管典型结构分解 | 第39-48页 |
| ·高可靠行波管整体结构初级分解 | 第39-41页 |
| ·行波管典型结构单元再分解 | 第41-48页 |
| 第四章 高可靠行波管结构要素分析 | 第48-58页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·电子枪结构单元要素识别与判据 | 第48-53页 |
| ·电子枪支撑筒结构 | 第49-50页 |
| ·阴极 | 第50-51页 |
| ·阳极 | 第51-52页 |
| ·热子 | 第52-53页 |
| ·慢波结构结构单元要素分析 | 第53-54页 |
| ·收集极结构单元要素分析 | 第54-56页 |
| ·聚焦结构结构单元要素分析 | 第56-58页 |
| 第五章 行波管结构分析指导规范 | 第58-63页 |
| ·一般要求 | 第58页 |
| ·结构分析工作程序 | 第58-60页 |
| ·行波管结构分析技术流程 | 第60-63页 |
| ·结构单元分解 | 第60页 |
| ·结构要素识别 | 第60-61页 |
| ·分析结论 | 第61页 |
| ·针对性建议 | 第61-63页 |
| 第六章 结束语 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第67-68页 |
