| 第1章 绪论 | 第1-25页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·电磁屏蔽材料的研究目的和意义 | 第11-16页 |
| ·电磁波辐射的危害 | 第11-12页 |
| ·电磁屏蔽材料研究的意义 | 第12-13页 |
| ·电磁屏蔽材料的国内外研究和开发现状 | 第13-16页 |
| ·国外电磁屏蔽材料研究和开发现状 | 第13-15页 |
| ·国内电磁屏蔽材料研究和开发现状 | 第15-16页 |
| ·表面包银的核壳粒子的国内外研究现状 | 第16-23页 |
| ·纳米银包裹有机物粒子 | 第18-20页 |
| ·纳米银包裹无机物粒子 | 第20-22页 |
| ·纳米银包裹纳米线/带 | 第22-23页 |
| ·选题目的及论文主要内容 | 第23-25页 |
| 第2章 玻璃微珠/银核壳复合粒子的制备与表征 | 第25-56页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·实验部分 | 第25-30页 |
| ·实验试剂及原料 | 第25-26页 |
| ·实验仪器设备 | 第26-27页 |
| ·分析仪器与测试方法 | 第27-28页 |
| ·玻璃微珠/银核壳复合粒子的制备 | 第28-30页 |
| ·结果与讨论 | 第30-54页 |
| ·对玻璃微珠表面改性的研究 | 第30-35页 |
| ·WD-56加入量理论计算 | 第30页 |
| ·WD-56改性红外光谱分析 | 第30-31页 |
| ·胶体钯活化EDS能谱分析 | 第31-32页 |
| ·玻璃微珠改性TEM分析 | 第32-33页 |
| ·玻璃微珠改性机理分析 | 第33-35页 |
| ·玻璃微珠/银核壳粒子的微观结构与组成 | 第35-42页 |
| ·核壳粒子的组成 | 第35-37页 |
| ·核壳粒子的表面形貌 | 第37-38页 |
| ·核壳粒子的结构 | 第38-40页 |
| ·核壳粒子的XPS分析 | 第40-42页 |
| ·制备工艺参数对玻璃微珠/银核壳粒子壳层致密性的影响 | 第42-51页 |
| ·溶液pH的影响 | 第42-46页 |
| ·反应时间的影响 | 第46-47页 |
| ·粉体装载量的影响 | 第47-48页 |
| ·反应温度的影响 | 第48-49页 |
| ·硫脲浓度的影响 | 第49-50页 |
| ·氨水浓度的影响 | 第50-51页 |
| ·表面活性剂对玻璃微珠/银核壳粒子壳层均匀性的影响 | 第51-54页 |
| ·SLS的影响 | 第51-52页 |
| ·PVP的影响 | 第52-53页 |
| ·CMC的影响 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第3章 二氧化硅/银核壳复合粒子的制备与表征 | 第56-78页 |
| ·引言 | 第56-57页 |
| ·实验部分 | 第57-62页 |
| ·实验试剂及原料 | 第57页 |
| ·实验仪器设备 | 第57-58页 |
| ·分析仪器与测试方法 | 第58-60页 |
| ·二氧化硅胶体粒子的制备 | 第60页 |
| ·二氧化硅/银核壳粒子的制备 | 第60-62页 |
| ·结果与讨论 | 第62-75页 |
| ·SiO_2胶体粒子的微观结构与性能 | 第62-70页 |
| ·合成条件对粒子粒径及其分散度的影响 | 第62-66页 |
| ·SiO_2胶体粒子的表面形貌 | 第66-67页 |
| ·SiO_2胶体粒子的红外光谱分析 | 第67-68页 |
| ·SiO_2胶体粒子的热重—差热分析 | 第68-69页 |
| ·SiO_2胶体体系的稳定性分析 | 第69-70页 |
| ·二氧化硅/银核壳粒子的微观结构与组成 | 第70-74页 |
| ·核壳粒子的组成 | 第70-71页 |
| ·核壳粒子的结构 | 第71-72页 |
| ·核壳粒子的表面形貌 | 第72-73页 |
| ·核壳粒子的XPS分析 | 第73-74页 |
| ·二氧化硅/银核壳粒子的反应机理分析 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-78页 |
| 第4章 结论 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-86页 |
| 附录 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |