X微处理器调试结构的设计及实现

摘要	第1-11页
ABSTRACT	第11-13页
第一章 绪论	第13-16页
·课题的研究背景	第13页
·课题研究的主要内容	第13-14页
·论文的结构	第14页
·本论文的研究成果	第14-16页
第二章 可调试性设计综述	第16-37页
·调试的相关概念	第16-18页
·可调试性设计的技术	第18-31页
·可调／测试性设计的方法	第18-28页
·边界扫描(Boundary Scan)	第28-31页
·微处理器的可调试性设计	第31-32页
·目前调／测试结构的应用概况	第32-36页
·测试结构的应用概况	第32-33页
·调试结构的应用概况	第33-36页
·小结	第36-37页
第三章 X微处理器的调试需求及总体设计	第37-46页
·X微处理器结构与调试需求	第37-40页
·X微处理器结构简介	第37-38页
·X微处理器调试的需求	第38-40页
·X微处理器调试结构的总体构想	第40-41页
·X微处理器调试结构的总体设计	第41-44页
·调试结构的设计方案	第41-42页
·调试结构的总体设计	第42-44页
·小结	第44-46页
第四章 追踪调试寄存器的设计	第46-57页
·系统级调试结构的介绍	第46-47页
·追踪调试寄存器的功能	第47-48页
·追踪调试寄存器的设计	第48-53页
·追踪调试寄存器的逻辑结构设计	第48-51页
·追踪调试寄存器的电路结构设计	第51-53页
·追踪调试寄存器的使用	第53-56页
·调试异常	第54-55页
·追踪调试寄存器的使用	第55-56页
·小结	第56-57页
第五章 测试寄存器的设计	第57-81页
·测试寄存器的调试模式	第57页
·Cache测试寄存器的设计	第57-64页
·Cache测试寄存器的功能	第57-59页
·Cache测试寄存器的设计	第59-64页
·TLB测试寄存器的设计	第64-67页
·TLB测试寄存器的功能	第64-65页
·TLB测试寄存器的设计	第65-67页
·BTB测试寄存器的设计	第67-71页
·BTB测试寄存器的功能	第67-69页
·BTB测试寄存器的设计	第69-71页
·测试寄存器及测试指令的使用	第71-80页
·测试寄存器的使用限制	第72-73页
·测试寄存器及测试指令的使用	第73-80页
·小结	第80-81页
第六章 控制与观察链路的设计	第81-91页
·硬件结构级调试结构的总体设计	第81-82页
·控制链路的设计	第82-84页
·控制链路的功能	第82页
·控制链路的设计	第82-84页
·测试数据读写链路的设计	第84-88页
·测试数据读写链路的功能	第84页
·测试数据读写链路的设计	第84-88页
·观察链路的设计	第88-90页
·观察链路的功能	第88页
·观察链路的设计	第88-90页
·小结	第90-91页
第七章 边界扫描及调试结构整合的设计	第91-99页
·边界扫描结构的设计	第91-94页
·边界扫描结构的设计	第91-93页
·边界扫描指令的实现	第93-94页
·调试结构整合的设计	第94-95页
·调试结构整合的实现	第95-98页
·测试指令寄存器的扩展	第95-96页
·调试结构整合的实现	第96-97页
·进入调试模式的方式	第97-98页
·小结	第98-99页
第八章 X微处理器中锁相环性能的测试	第99-105页
·测试结构的总体设计	第99-100页
·测试结构的总体构想	第99-100页
·测试结构的总体方案	第100页
·锁相环性能测试结构的具体设计	第100-104页
·分频器的设计	第101页
·系统负脉冲产生逻辑的设计	第101-102页
·频率鉴定逻辑的设计	第102-103页
·参考源发生器	第103-104页
·小结	第104-105页
结束语	第105-107页
致谢	第107-108页
参考文献	第108-111页
作者在学期间取得的学术成果	第111页