被动毫米波成像技术研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-11页 |
| ·毫米波的特点 | 第6页 |
| ·被动毫米波成像技术的理论及发展 | 第6-8页 |
| ·图像的恢复与重建技术 | 第8-9页 |
| ·DSP图像处理系统 | 第9页 |
| ·本文的思路及主要工作 | 第9-11页 |
| 2 被动毫米波成像技术基础 | 第11-21页 |
| ·被动毫米波成像系统原理框图 | 第11页 |
| ·毫米波辐射成像的物理原理 | 第11-15页 |
| ·热辐射定律——普朗克黑体辐射定律 | 第12页 |
| ·功率与温度的等效关系 | 第12-14页 |
| ·物体辐射特性 | 第14-15页 |
| ·被动毫米波成像技术的一般问题 | 第15-21页 |
| ·毫米波辐射计结构与原理 | 第15-17页 |
| ·扫描成像中问题的讨论 | 第17-21页 |
| 3 单波束扫描成像实验及焦平面阵列成像分析 | 第21-31页 |
| ·引言 | 第21页 |
| ·单波束扫描成像实验 | 第21-24页 |
| ·成像实验介绍 | 第21-22页 |
| ·采样数据处理成像 | 第22-24页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像技术分析 | 第24-31页 |
| ·焦平面成像的一般描述 | 第24-25页 |
| ·毫米波焦平面成像技术分析 | 第25-27页 |
| ·成像接收机工作原理 | 第27-29页 |
| ·波束扫描方式分析 | 第29-31页 |
| 4 被动毫米波图像处理的研究 | 第31-52页 |
| ·问题的提出 | 第31-32页 |
| ·天线辐射方向图对亮温分布的平滑作用 | 第32-33页 |
| ·成像系统的退化变质模型 | 第33-34页 |
| ·高分辨率图像恢复的非线性外推算法 | 第34-39页 |
| ·频率空间非线性外推图像增强基本算法 | 第35-36页 |
| ·非线性外推图像增强的改进算法 | 第36-38页 |
| ·非线性外推图像增强算法中背景噪声的抑制 | 第38-39页 |
| ·POCS超分辨率处理 | 第39-52页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·POCS算法基本原理 | 第40-43页 |
| ·POCS算法在图像超分辨率重构中的详细实现 | 第43-44页 |
| ·POCS超分辨率重构实验 | 第44-52页 |
| 5 基于C6201的实时图像处理器的设计 | 第52-70页 |
| ·工作原理和系统构成 | 第52-53页 |
| ·信号采集模块 | 第53-55页 |
| ·FPGA模块 | 第55-56页 |
| ·DSP核心电路设计 | 第56-61页 |
| ·DSP系统的EMIF连接及其外围电路设计 | 第57-58页 |
| ·EMIF与SDRAM接口设计 | 第58-59页 |
| ·EMIF与FLASH接口电路设计 | 第59-60页 |
| ·EMIF与FIFO接口电路设计 | 第60-61页 |
| ·其它DSP外围电路 | 第61-64页 |
| ·DSP的JTAG接口电路设计 | 第61-62页 |
| ·DSP的工作模式及时钟设置电路设计 | 第62-64页 |
| ·系统电源设计 | 第64页 |
| ·视频信号输出电路设计 | 第64-67页 |
| ·系统软件设计 | 第67-69页 |
| ·系统设计小结 | 第69-70页 |
| 结束语 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
