| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·过程层析成像(Process Tomography)技术简介 | 第9-14页 |
| ·PT技术的提出 | 第9-10页 |
| ·几种常见的PT技术 | 第10-12页 |
| ·PT技术发展概况 | 第12-14页 |
| ·电容层析成像技术的应用及目前存在的问题 | 第14-15页 |
| ·电容层析成像技术简介 | 第14页 |
| ·ECT的应用实例及目前存在的问题 | 第14-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-16页 |
| ·本论文的组织 | 第16-17页 |
| 第二章 电容层析成像的基本原理 | 第17-23页 |
| ·电容传感器及ECT系统测量原理 | 第17-18页 |
| ·ECT敏感场的数学描述 | 第18页 |
| ·正问题求解 | 第18-19页 |
| ·正问题有限元求解 | 第19-21页 |
| ·等价变分问题 | 第19页 |
| ·有限单元剖分、插值与基函数 | 第19-21页 |
| ·电容值的计算 | 第21页 |
| ·ECT逆问题及图像重建算法 | 第21-23页 |
| ·线性反投影算法 | 第21-22页 |
| ·滤波反投影算法 | 第22页 |
| ·LBP算法的实现步骤 | 第22-23页 |
| 第三章 阵列电极的优化设计 | 第23-28页 |
| ·结构参数对电容传感器性能的影响 | 第23页 |
| ·优化目标函数及指标 | 第23-24页 |
| ·阵列电极结构参数优化设计 | 第24-26页 |
| ·屏蔽层与电容极板的间距R3-R2对敏感场的影响 | 第24-25页 |
| ·绝缘层材料的相对介电常数 对敏感场的影响 | 第25页 |
| ·管道绝缘层厚度d1和电极张角 对敏感场的影响 | 第25-26页 |
| ·径向电极的插入深度h对敏感场的影响 | 第26页 |
| ·优化设计实验评估 | 第26-28页 |
| 第四章 电容层析成像系统设计 | 第28-47页 |
| ·系统概述 | 第28页 |
| ·电容传感器 | 第28-29页 |
| ·数据采集系统的设计 | 第29-44页 |
| ·数据采集系统设计的难点 | 第29-30页 |
| ·正弦电压发生器 | 第30-34页 |
| ·AD7008芯片的结构与原理 | 第31-32页 |
| ·正弦电压发生器的构建 | 第32-34页 |
| ·电容测量电路 | 第34-40页 |
| ·C/V转换电路 | 第35页 |
| ·交流可编程增益放大电路 | 第35-36页 |
| ·相敏解调 | 第36-37页 |
| ·低通滤波器 | 第37-39页 |
| ·开关组合方案 | 第39页 |
| ·数据采集卡 | 第39-40页 |
| ·系统标定 | 第40-43页 |
| ·零点标定 | 第40页 |
| ·满量程标定 | 第40-43页 |
| ·传感器电路测量结果分析 | 第43-44页 |
| ·系统软件设计 | 第44-47页 |
| ·有限元仿真软件包 | 第44-46页 |
| ·PC机成像软件设计 | 第46-47页 |
| 第五章 电容层析成像系统性能实验研究 | 第47-56页 |
| ·实验内容 | 第47页 |
| ·未知介电常数对象的图像重建方法探讨 | 第47-50页 |
| ·静态性能测试 | 第50-54页 |
| ·系统空间分辨率测试 | 第50页 |
| ·不同数目物体的成像实验 | 第50-53页 |
| ·模拟流型静态成像实验 | 第53-54页 |
| ·实验结果分析 | 第54页 |
| ·动态性能测试 | 第54-56页 |
| 第六章 结论及建议 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 在学期间发表论文情况 | 第60-61页 |
| 致 谢 | 第61页 |