| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-21页 |
| ·数字高清晰度电视概论 | 第7-8页 |
| ·数字电视系统的定义 | 第7-8页 |
| ·数字电视系统的三个显著特征 | 第8页 |
| ·DVB-C数字电视传输系统 | 第8-12页 |
| ·有线数字视频广播系统的发展现状和前景分析 | 第8-9页 |
| ·DVB的主要目标及标准 | 第9-10页 |
| ·DVB-C系统 | 第10-12页 |
| ·DVB-C系统发送端功能模块介绍 | 第10-11页 |
| ·DVB-C系统接收端功能模块介绍 | 第11-12页 |
| ·专用集成电路(ASIC)设计 | 第12-19页 |
| ·ASIC及其分类 | 第12页 |
| ·ASIC设计主要流程 | 第12-14页 |
| ·SOC设计技术 | 第14-18页 |
| ·系统级芯片特点 | 第14-15页 |
| ·SOC设计技术 | 第15-18页 |
| ·系统设计工具 | 第18-19页 |
| ·Synopsys | 第18-19页 |
| ·Cadence | 第19页 |
| ·Mentor Graphics | 第19页 |
| ·本文的主要工作 | 第19-21页 |
| 第二章 总控制模块的前端设计策略及实现 | 第21-44页 |
| ·通过总线控制 | 第21-29页 |
| ·总线的分类 | 第21-23页 |
| ·SPI | 第23-24页 |
| ·UART | 第24-25页 |
| ·CAN总线 | 第25-27页 |
| ·CAN控制器接口信号和时序 | 第26页 |
| ·CAN协议通信格式 | 第26-27页 |
| ·USB总线 | 第27-28页 |
| ·数据传输方式 | 第27页 |
| ·数据交换 | 第27-28页 |
| ·I~2C总线 | 第28-29页 |
| ·通过有限状态机控制 | 第29-30页 |
| ·有限状态机的种类 | 第29页 |
| ·有限状态机设计的一般步骤 | 第29-30页 |
| ·用HDL描述状态机应该注意的事项 | 第30页 |
| ·采用嵌入式MCU控制的思想 | 第30-33页 |
| ·嵌入式系统 | 第30-31页 |
| ·MCU的划分 | 第31-33页 |
| ·DTV芯片中的控制策略和实现 | 第33-44页 |
| ·DTV芯片的系统划分 | 第33-35页 |
| ·DTV芯片中多重控制策略 | 第35-37页 |
| ·用I~2C总线配置控制数据流向 | 第35-36页 |
| ·用I~2C总线配置控制启动机制 | 第36页 |
| ·用I~2C总线配置和读取工作参数 | 第36页 |
| ·采用EMCU控制启动逻辑 | 第36-37页 |
| ·I~2C接口模块的设计和实现 | 第37-41页 |
| ·从模式I~2C接口的电路结构 | 第38-39页 |
| ·I~2C转发器接口设计 | 第39-41页 |
| ·测试验证和实现结果 | 第41页 |
| ·EMCU的实现 | 第41-44页 |
| ·ASIP指令集的设计 | 第41-42页 |
| ·ASIP的硬件结构 | 第42-44页 |
| 第三章 芯片的设计验证及可测试性策略 | 第44-67页 |
| ·验证和测试 | 第44页 |
| ·验证方法 | 第44-53页 |
| ·验证平台的设计 | 第46-50页 |
| ·验证平台介绍 | 第46-47页 |
| ·本芯片验证平台的设计 | 第47-50页 |
| ·RTL级仿真 | 第50-51页 |
| ·时序验证 | 第51-52页 |
| ·动态时序验证 | 第51-52页 |
| ·静态时序验证 | 第52页 |
| ·形式验证(Formal Verification) | 第52-53页 |
| ·可测性设计 | 第53-67页 |
| ·芯片测试的必要性 | 第53-54页 |
| ·可测性设计的重要性 | 第54-56页 |
| ·缺陷(Fault)的基本类型 | 第56-58页 |
| ·芯片测试的常用方法 | 第58-67页 |
| ·基于全扫描的可测试性设计 | 第58-60页 |
| ·基于BIST的Memory可测试性设计 | 第60-65页 |
| ·芯片的边界扫描设计 | 第65-67页 |
| 第四章 面向综合和测试的设计方法 | 第67-76页 |
| ·面向综合的代码风格和技巧 | 第67-71页 |
| ·逻辑综合的概念 | 第67-68页 |
| ·使综合过程顺利的技巧 | 第68-69页 |
| ·敏感变量列表写全 | 第68页 |
| ·子模块输出尽量锁存 | 第68-69页 |
| ·对所有寄存器复位 | 第69页 |
| ·状态机的代码风格 | 第69页 |
| ·避免不可综合的描述 | 第69页 |
| ·提高综合性能的方法 | 第69-71页 |
| ·资源共享 | 第69-70页 |
| ·流水技术 | 第70-71页 |
| ·平衡电路 | 第71页 |
| ·面向可测性设计的代码风格和技巧 | 第71-76页 |
| ·有关功能测试 | 第71-72页 |
| ·增强内部信号的可观测性 | 第71-72页 |
| ·尽量使所有可写寄存器都可读 | 第72页 |
| ·有关scan测试 | 第72-76页 |
| ·避免产生组合电路的反馈 | 第72-73页 |
| ·避免使用锁存器 | 第73页 |
| ·所有寄存器的时钟都必须可以由管脚直接控制 | 第73-74页 |
| ·处理内部产生的复位信号 | 第74页 |
| ·关于三态总线 | 第74-75页 |
| ·对黑盒子做阴影逻辑测试 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 致谢 | 第79页 |