| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-10页 |
| 第一章 颗粒测试技术概述 | 第10-16页 |
| §1．1 颗粒粒度测试的意义 | 第10页 |
| §1．2 颗粒群粒径分布及其数学函数 | 第10-12页 |
| §1．3 颗粒粒度测试技术简介 | 第12-15页 |
| §1．3．1 沉降法 | 第12-13页 |
| §1．3．2 库尔特法 | 第13页 |
| §1．3．3 光散射法 | 第13-15页 |
| §1．4 本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 夫朗和费衍射法测量原理 | 第16-23页 |
| §2．1 单个粒子散射光强分布函数 | 第16-18页 |
| §2．2 颗粒群散射光能分布函数及其尺寸分布的计算 | 第18-22页 |
| §2．3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 Mie散射理论及研究任务的提出 | 第23-30页 |
| §3．1 Mie散射理论 | 第23-28页 |
| §3．1．1 Mie散射基本公式 | 第23-24页 |
| §3．1．2 Mie散射光强的计算 | 第24-27页 |
| §3．1．3 Mie散射的近似—夫朗和费衍射 | 第27-28页 |
| §3．2 改进小角前向光散射法颗粒测试技术的研究——任务的提出 | 第28-29页 |
| §3．2．1 夫朗和费测量技术在细微粒子测量方面的局限性 | 第28页 |
| §3．2．2 研究任务的提出 | 第28-29页 |
| §3．3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 改进小角度光散射法测试技术的方法 | 第30-45页 |
| §4．1 傅立叶反变换技术 | 第30-31页 |
| §4．2 Mie散射理论在小角前向光散射仪中的应用——累积和简化积分法 | 第31-34页 |
| §4．3 颗粒粒度测量迭代算法的改进——自适应双向分段逼近法 | 第34-40页 |
| §4．3．1 数据处理方法——分布函数限定法 | 第34-36页 |
| §4．3．2 反演迭代算法 | 第36页 |
| §4．3．3 反演迭代算法的改进 | 第36-38页 |
| §4．3．4 基于CIN调用的迭代算法数据处理软件 | 第38-40页 |
| §4．4 前向SSPA接收范围的扩展——侧向光电探测器 | 第40-44页 |
| §4．4．1 侧向光电探测接收系统 | 第41-42页 |
| §4．4．2 基于Mie散射理论的侧向散射光计算 | 第42-44页 |
| §4．5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 实验系统及实验结果分析 | 第45-63页 |
| §5．1 前向小角光散射测试系统 | 第45-51页 |
| §5．1．1 系统硬件介绍 | 第45-49页 |
| §5．1．2 系统软件设计 | 第49-51页 |
| §5．2 侧向光纤传感接收系统 | 第51-58页 |
| §5．2．1 系统硬件介绍 | 第52-55页 |
| §5．2．2 系统软件设计 | 第55-58页 |
| §5．3 实验数据分析 | 第58-61页 |
| §5．3．1 Mie散射理论和夫朗和费衍射原理实验结果对比分析 | 第58-59页 |
| §5．3．2 颗粒粒度测量迭代算法的改进 | 第59-60页 |
| §5．3．3 细微粒子侧向散射光信息接收实验 | 第60-61页 |
| §5．4 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 全文总结 | 第63-65页 |
| §6．1 本文的特点 | 第63页 |
| §6．2 今后的工作 | 第63-65页 |
| 参加科研项目的工作和发表的文章 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
