| 一 绪论 | 第1-15页 |
| （一） CT及其质量保证进展 | 第10-12页 |
| （二） SCT图像性能参数应用质量检测 | 第12-13页 |
| （三） 本文研究的目的和主要内容 | 第13-15页 |
| 二 断层灵敏度剖面线的检测方法及其体模 | 第15-26页 |
| （一） 引言 | 第15-16页 |
| （二） 材料与方法 | 第16-18页 |
| 1 原理 | 第16-17页 |
| 2 设备与工具 | 第17页 |
| 3 检测方法 | 第17-18页 |
| （三） 结果 | 第18-21页 |
| 1 Siemens Plus4的检测结果 | 第18-19页 |
| 2 GE Light Speed Ultra的检测结果 | 第19-21页 |
| （四） 讨论 | 第21-25页 |
| 1 SSP与扫描野中所处位置的关系 | 第21-22页 |
| 2 重建间隔的影响 | 第22-23页 |
| 3 与斜线法的比较 | 第23-24页 |
| 4 体模目标物质厚度与层厚的关系 | 第24-25页 |
| （五） 小结 | 第25-26页 |
| 三 空间分辨力检测方法及其体模 | 第26-32页 |
| （一） 引言 | 第26页 |
| （二） 材料与方法 | 第26-30页 |
| 1 原理 | 第26-27页 |
| 2 设备和工具 | 第27-28页 |
| 3 检测方法 | 第28页 |
| 4 数据处理 | 第28-30页 |
| （三） 结果与讨论 | 第30-31页 |
| （四） 小结 | 第31-32页 |
| 四 噪声和场均匀性的检测方法 | 第32-41页 |
| （一） 引言 | 第32页 |
| （二） 材料与方法 | 第32-34页 |
| 1 设备与工具 | 第32-33页 |
| 2 检测方法 | 第33-34页 |
| （三） 结果 | 第34-37页 |
| 1 Siemens Plus4的检测结果 | 第34-35页 |
| 2 GE Light Speed Ultra的检测结果 | 第35-37页 |
| （四） 讨论 | 第37-39页 |
| 1 与现有方法的比较 | 第37页 |
| 2 实际检测中的两个问题 | 第37-38页 |
| 3 影响因素分析 | 第38-39页 |
| （五） 小结 | 第39-41页 |
| 五 CT值线性的评价方法 | 第41-48页 |
| （一） 引言 | 第41页 |
| （二） 材料与方法 | 第41-43页 |
| 1 原理 | 第41-43页 |
| 2 设备与工具 | 第43页 |
| 3 方法 | 第43页 |
| （三） 结果 | 第43-44页 |
| （四） 讨论 | 第44-46页 |
| 1 影响因素分析 | 第44-45页 |
| 2 CT值线性与对比度标度的关系 | 第45-46页 |
| 3 进一步研究设想 | 第46页 |
| （五） 小结 | 第46-48页 |
| 六 结论 | 第48-51页 |
| （一） 论文总结 | 第48-49页 |
| （二） 展望 | 第49-51页 |
| 七 参考文献 | 第51-57页 |
| 附录1 断层灵敏度剖面线的数学推导 | 第57-60页 |
| 附录2 断层灵敏度剖面线的检测方法程序清单（节选） | 第60-61页 |
| 附录3 调制传输函数检测方法程序清单（节选） | 第61-62页 |
| 附录4 噪声和场均匀性检测方法程序清单（节选） | 第62-64页 |
| 附录5 CT值线性评价方法程序清单（节选） | 第64-66页 |
| 综述 螺旋CT基本性能参数分析 | 第66-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的主要论文 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
