基于电子经纬仪的航天器天线装配精密测量技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-29页 |
| ·研究背景和意义 | 第13-14页 |
| ·航天器天线测量技术现状 | 第14-19页 |
| ·航天器天线的传统测量技术 | 第14-16页 |
| ·基于工业测量系统的天线测量技术 | 第16-18页 |
| ·航天器天线装配测量流程 | 第18-19页 |
| ·电子经纬仪测量航天器天线技术现状 | 第19-24页 |
| ·电子经纬仪测量系统技术现状 | 第19-22页 |
| ·航天器总装精测基准测量与建立技术现状 | 第22-23页 |
| ·星载天线装配的测量技术现状 | 第23-24页 |
| ·大尺寸工业测量系统现状 | 第24-28页 |
| ·主要研究内容 | 第28-29页 |
| 第2章 电子经纬仪自由状态测量理论模型研究 | 第29-44页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·透视投影理论基础 | 第29-33页 |
| ·电子经纬仪虚拟像平面及其透视投影 | 第29-31页 |
| ·两电子经纬仪间的坐标变换 | 第31-33页 |
| ·建立电子经纬仪的自由状态测量模型 | 第33-34页 |
| ·基于电子经纬仪观测值的空间三维坐标测量模型 | 第34-39页 |
| ·两台电子经纬仪的三维坐标测量模型 | 第34-36页 |
| ·多台电子经纬仪的三维坐标测量模型 | 第36-39页 |
| ·自由状态电子经纬仪测量不确定度分析 | 第39-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 电子经纬仪自由状态标定技术研究 | 第44-59页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·基于一维标定体的标定技术研究 | 第44-50页 |
| ·线性标定算法 | 第44-48页 |
| ·非线性标定算法 | 第48-49页 |
| ·基于一维标定体的标定过程 | 第49-50页 |
| ·基于二维标定体的标定技术研究 | 第50-53页 |
| ·标定算法 | 第51-52页 |
| ·基于二维标定体的标定过程 | 第52-53页 |
| ·基于三维标定体的标定技术研究 | 第53-58页 |
| ·标定算法 | 第54-57页 |
| ·基于三维标定体的标定过程 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第4章 航天器天线装配测量技术研究 | 第59-77页 |
| ·引言 | 第59页 |
| ·航天器总装基准精密测量技术 | 第59-67页 |
| ·立方镜坐标基准建立方法 | 第60-63页 |
| ·整星设计坐标基准建立 | 第63-65页 |
| ·总体坐标基准转换 | 第65-67页 |
| ·基于电子经纬仪系统的星载天线装配测量技术 | 第67-69页 |
| ·星载天线立方镜测量技术 | 第67-68页 |
| ·星载天线曲面坐标测量技术 | 第68-69页 |
| ·基于二次曲面一般方程的天线曲面拟合算法 | 第69-74页 |
| ·最小二乘平差算法 | 第69-72页 |
| ·Jacobi方法求特征根和特征向量解算 | 第72-73页 |
| ·二次曲面拟合算法 | 第73-74页 |
| ·天线曲面拟合仿真实验 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第5章 实验 | 第77-91页 |
| ·引言 | 第77页 |
| ·电子经纬仪系统标定和测量实验 | 第77-84页 |
| ·测量工艺对比 | 第79页 |
| ·两台电子经纬仪的标定比对实验 | 第79-82页 |
| ·三台电子经纬仪的标定比对实验 | 第82-84页 |
| ·航天器天线装配测量实验 | 第84-90页 |
| ·立方镜过渡坐标系建立实验 | 第84-86页 |
| ·航天器整星设计坐标基准建立实验 | 第86-88页 |
| ·天线曲面测量实验 | 第88-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 结论 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-101页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第101-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 个人简历 | 第104页 |
