| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| ·研究目的和意义 | 第11-12页 |
| ·热电效应基本原理 | 第12-14页 |
| ·Seebeck 效应 | 第12页 |
| ·Peltier 效应 | 第12-13页 |
| ·Thomson 效应 | 第13页 |
| ·热电材料的热电性能表征 | 第13-14页 |
| ·热电材料的分类 | 第14-17页 |
| ·按材料组成分类 | 第14-16页 |
| ·按结构特征分类 | 第16-17页 |
| ·热电材料的用途 | 第17页 |
| ·热电材料的研究趋势 | 第17-18页 |
| ·Zn-Sb 热电材料的制备进展 | 第18-19页 |
| ·熔融热压法 | 第18页 |
| ·熔融缓冷 | 第18-19页 |
| ·机械合金化 | 第19页 |
| ·固相合成 | 第19页 |
| ·电化学方法 | 第19页 |
| ·脉冲电镀薄膜原理 | 第19-21页 |
| ·合金共沉积原理 | 第20-21页 |
| ·实现合金共沉积的方法 | 第21页 |
| ·本论文的研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 实验仪器及测试 | 第23-30页 |
| ·主要试剂 | 第23-24页 |
| ·主要仪器 | 第24页 |
| ·电沉积实验材料预处理 | 第24页 |
| ·脉冲电化学实验装置图 | 第24-25页 |
| ·合金薄膜后处理 | 第25页 |
| ·沉积膜金属含量分析 | 第25-28页 |
| ·锌的分析 | 第25-26页 |
| ·锑的分析 | 第26页 |
| ·镧的分析 | 第26-27页 |
| ·铈的分析 | 第27-28页 |
| ·形貌结构分析方法及Seebeck 系数测试 | 第28-30页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第28页 |
| ·X 射线衍射(XRD)分析 | 第28页 |
| ·DSC 分析 | 第28页 |
| ·Seebeck 系数的测试方法 | 第28-30页 |
| 第三章 Zn(II)、Sb(III)离子的电化学行为 | 第30-36页 |
| ·锌锑共沉积的物理化学计算 | 第30-33页 |
| ·合金共沉积条件 | 第30页 |
| ·锌锑共沉积物理化学分析 | 第30-33页 |
| ·配合剂对Zn(II)、Sb(III)离子的电化学行为影响 | 第33-34页 |
| ·电解体系及电解条件初步确定 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 锌、锑合金脉冲电沉积法的制备 | 第36-50页 |
| ·脉冲电化学工艺条件对合金含量的影响 | 第36-44页 |
| ·pH 对Zn、Sb 含量的影响 | 第36-37页 |
| ·温度对Zn、Sb 含量的影响 | 第37-39页 |
| ·占空比对Zn、Sb 含量的影响 | 第39-40页 |
| ·主盐浓度对Zn、Sb 含量的影响 | 第40-41页 |
| ·电流密度对Zn、Sb 含量的影响 | 第41-42页 |
| ·体系中镧对其在镀层中含量的影响 | 第42-43页 |
| ·体系中铈对其在镀层中含量的影响 | 第43-44页 |
| ·沉积膜的表征 | 第44-49页 |
| ·掺镧、铈对镀层表面形貌的影响 | 第44-46页 |
| ·沉积膜的XRD 分析 | 第46-47页 |
| ·DSC 分析结果 | 第47-49页 |
| ·Seebeck 系数的测试结果 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 Zn_4S6_3 的 Seebeck 系数的理论计算 | 第50-61页 |
| ·Zn_4S6_3 的Seebeck 系数理论计算的基本研究思路 | 第50-52页 |
| ·Zn_4S6_3 晶体结构模型的建立 | 第50-51页 |
| ·Zn_4S6_3 掺杂模型的建立 | 第51-52页 |
| ·合金膜Seebeck 系数预测的理论基础 | 第52-53页 |
| ·基于第一性原理的计算方法 | 第52-53页 |
| ·密度泛函理论 | 第53页 |
| ·Seebeck 系数的计算方法 | 第53-55页 |
| ·Seebeck 系数的计算 | 第55-60页 |
| ·Zn_4S6_3 电子结构的计算结果 | 第55-57页 |
| ·Zn_4S6_3 掺杂电子结构的计算结果 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录(攻读硕士学位期间发表的学术论文与专利) | 第67页 |
