红外焦平面非均匀性校正方法研究与仿真
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1. 绪论 | 第7-12页 |
| ·红外成像技术介绍 | 第7-8页 |
| ·红外技术的发展现状和瓶颈 | 第8-9页 |
| ·红外焦平面非均匀性校正的发展和现状 | 第9-10页 |
| ·本论文的主要研究内容及工作 | 第10-12页 |
| 2 红外成像系统和焦平面非均匀性 | 第12-19页 |
| ·红外成像系统介绍 | 第12-13页 |
| ·红外焦平面的非均匀性 | 第13-15页 |
| ·红外焦平面非均匀性的成因 | 第15-16页 |
| ·非均匀性成因的具体分析和特征 | 第16-18页 |
| ·器件本身的非均匀性 | 第16-17页 |
| ·器件工作状态引入的非均匀性 | 第17页 |
| ·和外界输入有关的非均匀性 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 3 焦平面校正方法以及算法 | 第19-31页 |
| ·校正方法概述 | 第19页 |
| ·一点温度定标校正法 | 第19-21页 |
| ·两点温度定标校正法 | 第21-23页 |
| ·多点温度定标校正法 | 第23-27页 |
| ·基于场景的非均匀校正法 | 第27-29页 |
| ·时域高通滤波校正法 | 第27-28页 |
| ·恒定统计平均法 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 4 红外焦平面非均匀性校正仿真 | 第31-42页 |
| ·焦平面探测单元响应的非均匀性测定 | 第31-33页 |
| ·神经网络法 | 第33-34页 |
| ·校正算法 | 第34-37页 |
| ·计算机仿真 | 第37-40页 |
| ·算法的具体参数设置 | 第37-38页 |
| ·“S”曲线拟合校正算法实现的流程和结果 | 第38-40页 |
| ·校正效果总结 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 5 非均匀性校正效果评估 | 第42-49页 |
| ·红外焦平面探测器测试平台介绍 | 第42-43页 |
| ·红外焦平面探测器性能测试原理 | 第43-44页 |
| ·红外焦平面探测器测试结果及评估 | 第44-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 结束语 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
