| 摘要 | 第10-11页 |
| Abstract | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-25页 |
| 1.1 论文研究背景与意义 | 第13-15页 |
| 1.1.1 抗结冰技术在军事装备领域的应用 | 第13-14页 |
| 1.1.2 抗结冰技术在国民经济领域的应用 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-23页 |
| 1.2.1 疏水表面制备方法概述 | 第15-20页 |
| 1.2.2 疏水表面抗结冰性能研究现状 | 第20-23页 |
| 1.3 论文研究方案与研究内容 | 第23-25页 |
| 1.3.1 论文研究方案 | 第23页 |
| 1.3.2 论文研究内容 | 第23-25页 |
| 第二章 抗结冰疏水微结构阵列表面的设计与分析 | 第25-39页 |
| 2.1 疏水模型及分析 | 第25-32页 |
| 2.1.1 经典疏水模型 | 第25-28页 |
| 2.1.2 模型参数对Wenzel模型和Cassie模型的影响 | 第28-30页 |
| 2.1.3 液滴在微阵列表面维持Cassie态的压力条件 | 第30-32页 |
| 2.2 疏水微阵列参数设计 | 第32-35页 |
| 2.2.1 圆柱形阵列结构参数计算 | 第32-33页 |
| 2.2.2 液-气界面压强计算 | 第33-34页 |
| 2.2.3 圆柱形阵列结构表面临界压力的计算 | 第34-35页 |
| 2.3 表面疏水性与抗结冰性关系的热力学分析 | 第35-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 SU-8疏水表面制备工艺与接触角测试方法 | 第39-49页 |
| 3.1 SU-8胶微阵列疏水表面工艺制备方法与分析 | 第39-46页 |
| 3.1.1 材料准备和预处理 | 第39-40页 |
| 3.1.2 表面微结构制作工艺流程 | 第40-41页 |
| 3.1.3 微结构制作效果与尺寸误差分析 | 第41-45页 |
| 3.1.4 工艺过程中的注意事项 | 第45-46页 |
| 3.2 接触角测试方法与误差分析 | 第46-48页 |
| 3.2.1 接触角测试方法简介 | 第46-47页 |
| 3.2.2 误差分析 | 第47-48页 |
| 3.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 表面静态疏水性能的影响因素研究 | 第49-66页 |
| 4.1 微阵列单元截面形状对表面静态疏水性能影响研究 | 第49-57页 |
| 4.1.1 阵列单元参数设计 | 第49-52页 |
| 4.1.2 疏水微阵列表面制备与表征 | 第52-55页 |
| 4.1.3 疏水性测试与结果分析 | 第55-57页 |
| 4.2 微阵列排布方式对表面静态疏水性能的影响研究 | 第57-61页 |
| 4.2.1 微阵列排布方式选择与参数设计 | 第57-59页 |
| 4.2.2 疏水微阵列表面制备与表征 | 第59-60页 |
| 4.2.3 疏水性测试与结果分析 | 第60-61页 |
| 4.3 不同固-液接触面积分数对表面静态疏水性能的影响 | 第61-65页 |
| 4.3.1 微阵列参数设计 | 第61-62页 |
| 4.3.2 微结构制作与表征 | 第62-63页 |
| 4.3.3 疏水性测试与结果分析 | 第63-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 疏水表面抗结冰性能探索 | 第66-72页 |
| 5.1 疏水表面抗结冰性能的实验验证 | 第66-69页 |
| 5.1.1 实验材料与实验装置 | 第66-67页 |
| 5.1.2 实验过程 | 第67页 |
| 5.1.3 实验结果与分析 | 第67-69页 |
| 5.2 疏水性与抗结冰性能相关关系的定性研究 | 第69-71页 |
| 5.2.1 实验材料的选择 | 第69-70页 |
| 5.2.2 结冰实验过程 | 第70页 |
| 5.2.3 结冰实验结果与分析 | 第70-71页 |
| 5.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 全文总结 | 第72页 |
| 6.2 研究展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第80页 |
