第四代通信系统中光纤熔接损耗的研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序 | 第9-12页 |
| 1 绪论 | 第12-25页 |
| 1.1 光通信网络的发展历史 | 第12-14页 |
| 1.2 光通信系统基本结构 | 第14-16页 |
| 1.2.1 光通信系统的基本组成 | 第14-15页 |
| 1.2.2 第四代通信系统(4G)的基本结构 | 第15-16页 |
| 1.3 光纤在通信中的发展与应用 | 第16-21页 |
| 1.3.1 光纤的特点 | 第17-18页 |
| 1.3.2 光纤的结构和分类 | 第18-20页 |
| 1.3.3 光纤损耗介绍 | 第20-21页 |
| 1.4 课题背景与研究意义 | 第21-23页 |
| 1.4.1 课题背景 | 第21-22页 |
| 1.4.2 研究目的及意义 | 第22-23页 |
| 1.5 本论文主要研究内容与结构 | 第23-25页 |
| 2 光纤熔接损耗机理 | 第25-37页 |
| 2.1 熔接损耗理论基础 | 第25-27页 |
| 2.1.1 非本征因素 | 第25-26页 |
| 2.1.2 本征因素 | 第26-27页 |
| 2.2 光纤熔接机工作原理 | 第27-30页 |
| 2.2.1 光纤熔接机结构 | 第27-28页 |
| 2.2.2 光纤熔接机熔接原理 | 第28-29页 |
| 2.2.3 光纤熔接机操作步骤 | 第29-30页 |
| 2.3 光纤熔接损耗的测量方法 | 第30-37页 |
| 2.3.1 光纤损耗的主要测试方法 | 第30-31页 |
| 2.3.2 光时域反射仪(OTDR) | 第31-37页 |
| 3 光纤熔接损耗研究 | 第37-49页 |
| 3.1 光纤模场直径对光纤熔接损耗影响实验 | 第37-45页 |
| 3.1.1 实验所用工具 | 第37-38页 |
| 3.1.2 实验步骤 | 第38-39页 |
| 3.1.3 实验测得损耗值及分析 | 第39-45页 |
| 3.2 康宁与长飞光纤混用实验 | 第45-49页 |
| 4 结论 | 第49-51页 |
| 4.1 结论 | 第49-50页 |
| 4.2 展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 作者简历 | 第54-56页 |
| 学位论文数据集 | 第56页 |
