| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-10页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.1.2 课题研究目的和意义 | 第8-10页 |
| 1.2 开关电源电磁辐射的国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 开关电源辐射模型建立的国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 开关电源辐射抑制的国内外研究 | 第13-14页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 BOOST 变换器高频模型的建立 | 第16-25页 |
| 2.1 Boost 变换器辐射机理分析 | 第16-17页 |
| 2.2 Boost 变换器的设计 | 第17-19页 |
| 2.2.1 Boost 变换器电路设计 | 第17-18页 |
| 2.2.2 Boost 变换器 PCB 设计 | 第18页 |
| 2.2.3 Boost 变换器实测波形 | 第18-19页 |
| 2.3 Boost 变换器高频模型的建立 | 第19-22页 |
| 2.3.1 Boost 变换器的元器件模型 | 第19-21页 |
| 2.3.2 PCB 分布参数的提取 | 第21页 |
| 2.3.3 Boost 变换器高频模型 | 第21-22页 |
| 2.4 仿真与实测对比 | 第22-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 金属机壳对 BOOST 变换器影响的分析 | 第25-34页 |
| 3.1 金属机壳的屏蔽作用分析 | 第25-26页 |
| 3.2 金属机壳屏蔽效能的计算 | 第26-27页 |
| 3.3 金属机壳对 PCB 走线回路电感影响的分析与计算 | 第27-30页 |
| 3.4 PCB 走线对金属机壳寄生电容的计算 | 第30-31页 |
| 3.5 Boost 变换器金属机壳电路模型的建立 | 第31-33页 |
| 3.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 BOOST 变换器远场辐射模型建立和仿真分析 | 第34-42页 |
| 4.1 建立 Boost 变换器辐射模型和仿真 | 第34-38页 |
| 4.1.1 Boost 变换器辐射模型的建立 | 第34-35页 |
| 4.1.2 Boost 变换器远场辐射仿真 | 第35-36页 |
| 4.1.3 仿真与实测结果对比 | 第36-38页 |
| 4.2 有输入输出线缆的 Boost 变换器辐射模型及辐射发射 | 第38-40页 |
| 4.2.1 建立有输入输出线缆 Boost 变换器辐射模型和仿真 | 第38-39页 |
| 4.2.2 仿真与实测结果对比 | 第39-40页 |
| 4.3 输入输出线缆作用分析 | 第40-41页 |
| 4.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 带金属机壳变换器辐射模型和远场辐射分析 | 第42-53页 |
| 5.1 有输入输出线缆和机壳的变换器辐射模型与远场辐射 | 第42-44页 |
| 5.1.1 建立有输入输出线缆和金属机壳的 Boost 变换器辐射模型 | 第42-43页 |
| 5.1.2 仿真与实测对比分析 | 第43-44页 |
| 5.2 Boost 变换器辐射结果分析 | 第44-46页 |
| 5.3 Boost 变换器远场干扰抑制措施 | 第46-52页 |
| 5.3.1 输入输出线缆上加铁氧体磁环 | 第46-48页 |
| 5.3.2 金属机壳与 PCB 地回路间加连接线 | 第48-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
