多通道动态测试信号处理及控制逻辑设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容及结构 | 第12-14页 |
| 第二章 动态信号处理及控制逻辑设计总体方案 | 第14-23页 |
| 2.1 动态信号处理及控制总体方案 | 第14-17页 |
| 2.2 多模式测试数据处理逻辑设计方案 | 第17-19页 |
| 2.3 动态测试信号源及扫频信号处理逻辑方案 | 第19-21页 |
| 2.4 动态信号分析仪触发存储传输逻辑方案 | 第21-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 动态测试数据处理逻辑设计及实现 | 第23-37页 |
| 3.1 采样信号的数据处理流程 | 第23-24页 |
| 3.2 基于抽取滤波的可变带宽分析设计 | 第24-34页 |
| 3.2.1 数控振荡与混频结构 | 第24-26页 |
| 3.2.2 级联积分梳状滤波器结构 | 第26-29页 |
| 3.2.3 可变带宽分析结构 | 第29-34页 |
| 3.3 多模式仪器数据预处理设计 | 第34-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 动态测试信号源设计与扫频分析实现 | 第37-54页 |
| 4.1 信号源的整体结构 | 第37-38页 |
| 4.2 DDS结构的基本原理 | 第38-40页 |
| 4.3 信号生成 | 第40-45页 |
| 4.3.1 正弦信号 | 第40-42页 |
| 4.3.2 线性调频信号 | 第42-44页 |
| 4.3.3 突发线性调频信号 | 第44页 |
| 4.3.4 扫频信号 | 第44-45页 |
| 4.4 噪声生成 | 第45-50页 |
| 4.4.1 高斯白噪声生成原理 | 第45-47页 |
| 4.4.2 高斯白噪声的硬件实现 | 第47-50页 |
| 4.5 测试信号源控制模块设计 | 第50-51页 |
| 4.6 仪器扫频模式逻辑设计 | 第51-53页 |
| 4.7 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 触发模块设计与数据存储传输实现 | 第54-69页 |
| 5.1 触发模块的总体设计 | 第54-58页 |
| 5.1.1 触发模块的需求分析 | 第54-55页 |
| 5.1.2 触发模块的逻辑设计 | 第55-58页 |
| 5.2 多工作模式数据选通及存储 | 第58-59页 |
| 5.3 PCIE空间配置与数据传输的实现 | 第59-68页 |
| 5.3.1 配置空间以及驱动生成 | 第59-64页 |
| 5.3.2 数据传输逻辑的实现 | 第64-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 测试验证 | 第69-84页 |
| 6.1 测试平台介绍 | 第69-70页 |
| 6.2 DDC模块测试 | 第70-77页 |
| 6.2.1 抽取滤波模块逻辑测试 | 第70页 |
| 6.2.2 可变带宽分析功能测试 | 第70-73页 |
| 6.2.3 其他工作模式测试 | 第73-77页 |
| 6.3 信号源测试 | 第77-81页 |
| 6.3.1 信号输出测试 | 第77-78页 |
| 6.3.2 噪声输出测试 | 第78-80页 |
| 6.3.3 信号源扫频测试 | 第80-81页 |
| 6.4 触发存储传输模式测试 | 第81-83页 |
| 6.4.1 触发功能测试 | 第81-82页 |
| 6.4.2 深存储功能测试 | 第82-83页 |
| 6.5 本章小节 | 第83-84页 |
| 第七章 结束语 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 附录 | 第88-90页 |
