| 缩略语表 | 第6-7页 |
| 中文摘要 | 第7-10页 |
| ABSTRACT | 第10-13页 |
| 前言 | 第14-15页 |
| 文献回顾 | 第15-29页 |
| 实验一 2种Y-TZP陶瓷的弯曲强度可靠性和亚临界裂纹扩展研究 | 第29-38页 |
| 1 材料 | 第29-30页 |
| 1.1 主要试剂和耗材 | 第29页 |
| 1.2 主要设备 | 第29-30页 |
| 2 方法 | 第30-32页 |
| 2.1 试样制备 | 第30页 |
| 2.2 实验分组及三点弯曲强度测试 | 第30页 |
| 2.3 室温下的疲劳实验 | 第30-31页 |
| 2.4 弯曲强度数据的Weibull分析 | 第31页 |
| 2.5 试样疲劳循环次数的Weibull分析 | 第31页 |
| 2.6 疲劳试样的SCG曲线 | 第31页 |
| 2.7 统计学分析 | 第31页 |
| 2.8 X射线衍射晶相结构分析 | 第31-32页 |
| 2.9 扫描电镜观察 | 第32页 |
| 3 结果 | 第32-35页 |
| 3.1 表面粗糙度测试结果 | 第32页 |
| 3.2 弯曲强度的统计学分析和Weibull分析 | 第32-33页 |
| 3.3 SCG曲线分析 | 第33-34页 |
| 3.5 表面晶相结构分析 | 第34页 |
| 3.6 扫描电镜 | 第34-35页 |
| 4 讨论 | 第35-38页 |
| 4.1 WL和HT氧化锆陶瓷材料弯曲强度的可靠性分析 | 第35-36页 |
| 4.2 WL、HT的应力腐蚀指数n及发生亚临界裂纹扩展的最低速率v | 第36页 |
| 4.3 SCG对WL、HT疲劳断裂过程的影响 | 第36-38页 |
| 实验二 表面喷砂对2种Y-TZP陶瓷弯曲强度可靠性和亚临界裂纹扩展的影响 | 第38-47页 |
| 1 材料 | 第38-39页 |
| 1.1 主要试剂和耗材 | 第38页 |
| 1.2 主要设备 | 第38-39页 |
| 2 方法 | 第39-40页 |
| 2.1 试样制备 | 第39页 |
| 2.2 实验分组及弯曲强度测试 | 第39页 |
| 2.3 室温下的疲劳实验 | 第39页 |
| 2.4 弯曲强度数据的Weibull分析 | 第39-40页 |
| 2.5 疲劳试验循环次数的Weibull分析 | 第40页 |
| 2.6 疲劳试样的SCG曲线 | 第40页 |
| 2.7 统计学分析 | 第40页 |
| 2.8 X射线衍射晶相结构分析 | 第40页 |
| 2.9 扫描电镜观察 | 第40页 |
| 3 结果 | 第40-45页 |
| 3.1 表面粗糙度测试结果 | 第40-41页 |
| 3.2 弯曲强度的统计学分析和Weibull分析 | 第41-42页 |
| 3.3 SCG曲线分析 | 第42-44页 |
| 3.4 表面晶相结构分析 | 第44页 |
| 3.5 扫描电镜 | 第44-45页 |
| 4 讨论 | 第45-47页 |
| 实验三 低温老化效应对Y-TZP陶瓷弯曲强度可靠性的影响 | 第47-54页 |
| 1 材料 | 第47-48页 |
| 1.1 主要试剂和耗材 | 第47页 |
| 1.2 主要设备 | 第47-48页 |
| 2 方法 | 第48-49页 |
| 2.1 试样制备 | 第48页 |
| 2.2 WL陶瓷的低温老化 | 第48页 |
| 2.3 实验分组及三点弯曲强度测试 | 第48-49页 |
| 2.4 弯曲强度数据的Weibull分析 | 第49页 |
| 2.5 统计学分析 | 第49页 |
| 2.6 XRD分析 | 第49页 |
| 3 结果 | 第49-52页 |
| 3.1 表面粗糙度测试结果 | 第49-50页 |
| 3.2 弯曲强度的Weibull分析 | 第50-51页 |
| 3.3 XRD分析结果 | 第51页 |
| 3.4 统计分析结果 | 第51-52页 |
| 4 讨论 | 第52-54页 |
| 小结 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 个人简历和研究成果 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
