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量子存储板高速数据传输接口关键技术研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第9-13页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第9-10页
    1.2 国内外研究的发展及现状分析第10-12页
        1.2.1 高速数据传输技术发展现状第10页
        1.2.2 总线技术发展现状第10-11页
        1.2.3 数据存储技术发展现状第11-12页
    1.3 本文的主要研究内容及结构第12-13页
第2章 测试设备总体设计方案第13-20页
    2.1 测试设备硬件设计方案第13-15页
    2.2 基于PCIe接口的高速数据传输方案第15-16页
    2.3 基于USB3.0 接口的高速数据传输方案第16-18页
    2.4 测试设备软件设计方案第18-19页
    2.5 本章小结第19-20页
第3章 测试设备硬件设计第20-41页
    3.1 高速数据传输板卡设计第20-34页
        3.1.1 电源模块设计第20-24页
        3.1.2 USB3.0 模块设计第24-26页
        3.1.3 PCIe模块设计第26-28页
        3.1.4 DDR2数据缓冲模块设计第28-30页
        3.1.5 内部高速总线模块设计第30-31页
        3.1.6 FPGA控制模块设计第31-34页
    3.2 量子通信连接板卡设计第34-37页
        3.2.1 电源模块设计第34-35页
        3.2.2 TLK2711模块设计第35-36页
        3.2.3 FPGA控制模块设计第36-37页
        3.2.4 其它电路设计第37页
    3.3 USB转串口模块设计第37-40页
    3.4 本章小节第40-41页
第4章 测试设备软件设计第41-61页
    4.1 高速数据传输板卡FPGA程序设计第41-53页
        4.1.1 USB3.0 模块FPGA程序设计第42-45页
        4.1.2 PCIe模块FPGA程序设计第45-50页
        4.1.3 DDR2数据缓冲模块FPGA程序设计第50-53页
        4.1.4 内部高速总线模块FPGA程序设计第53页
    4.2 量子通信连接板卡FPGA程序设计第53-56页
        4.2.1 TLK2711模块FPGA程序设计第54页
        4.2.2 Nios II模块程序设计第54-56页
    4.3 测试设备上位机软件设计第56-60页
    4.4 本章小结第60-61页
第5章 测试结果与分析第61-71页
    5.1 通信接口测试第61-66页
        5.1.1 USB3.0 模块测试第61-63页
        5.1.2 PCIe模块测试第63-64页
        5.1.3 TLK2711模块测试第64-65页
        5.1.4 USB转串口模块测试第65-66页
    5.2 系统测试第66-70页
        5.2.1 量子通信模式测试第66-67页
        5.2.2 离散模式测试第67-68页
        5.2.3 BULK模式测试第68页
        5.2.4 遥测解析测试第68-70页
    5.3 本章小结第70-71页
结论第71-73页
参考文献第73-77页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第77-79页
致谢第79页

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