| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 研究的意义及其应用背景 | 第8-9页 |
| 1.3 漏磁技术的发展现状 | 第9-11页 |
| 1.3.1 国外研究状况 | 第9-10页 |
| 1.3.2 国内研究状况 | 第10-11页 |
| 1.4 本论文主要的研究内容 | 第11-12页 |
| 2 漏磁检测技术理论基础 | 第12-27页 |
| 2.1 漏磁检测基本原理 | 第12-17页 |
| 2.1.1 漏磁场的计算方法 | 第12-14页 |
| 2.1.2 磁场分量分析 | 第14-15页 |
| 2.1.3 三种励磁方式 | 第15-17页 |
| 2.2 漏磁信号处理及特征提取方法 | 第17-23页 |
| 2.2.1 小波去噪 | 第17-19页 |
| 2.2.2 曲线拟合还原 | 第19-21页 |
| 2.2.3 漏磁信号分析及特征提取 | 第21-23页 |
| 2.3 漏磁信号温度增强方法 | 第23-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 3 漏磁检测有限元仿真 | 第27-43页 |
| 3.1 经典电磁场理论 | 第27-28页 |
| 3.2 漏磁检测有限元仿真分析 | 第28-31页 |
| 3.2.1 ANSYS Workbench有限元仿真 | 第28-29页 |
| 3.2.2 有限元模型建立 | 第29-31页 |
| 3.3 仿真结果与分析 | 第31-42页 |
| 3.3.1 缺陷深度对漏磁信号的影响 | 第33-36页 |
| 3.3.2 缺陷宽度对漏磁信号的影响 | 第36-39页 |
| 3.3.3 温度对漏磁信号的影响 | 第39-41页 |
| 3.3.4 提离对漏磁信号的影响 | 第41-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 4 漏磁检测系统的设计与实现 | 第43-57页 |
| 4.1 漏磁检测系统的整体框架 | 第43页 |
| 4.2 漏磁检测系统的硬件设计 | 第43-51页 |
| 4.2.1 激励结构的设计 | 第43-44页 |
| 4.2.2 探头的设计 | 第44-49页 |
| 4.2.3 调理电路的设计 | 第49-50页 |
| 4.2.4 信号采集模块的选择 | 第50-51页 |
| 4.3 漏磁检测系统的软件设计 | 第51-56页 |
| 4.3.1 虚拟仪器 | 第51-52页 |
| 4.3.2 Labview简介 | 第52页 |
| 4.3.3 检测系统软件结构 | 第52-54页 |
| 4.3.4 各功能模块设置 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 实验与分析 | 第57-75页 |
| 5.1 缺陷识别及量化分析 | 第57-67页 |
| 5.1.1 主要试件类型 | 第57-58页 |
| 5.1.2 不同深度缺陷的识别 | 第58-62页 |
| 5.1.3 不同宽度缺陷的识别 | 第62-67页 |
| 5.2 漏磁信号温度增强实验 | 第67-70页 |
| 5.2.1 温度对不同材质及磁化强度的影响 | 第68-69页 |
| 5.2.2 漏磁信号特征温度增强 | 第69-70页 |
| 5.3 漏磁检测实例 | 第70-74页 |
| 5.3.1 实验试样 | 第70-71页 |
| 5.3.2 数据采样及分析 | 第71-74页 |
| 5.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 6 总结与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 总结 | 第75页 |
| 6.2 展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |