| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第9-15页 |
| 1.1 正负电子与物质的相互作用 | 第9-11页 |
| 1.1.1 电子与物质的相互作用 | 第9-10页 |
| 1.1.2 正电子与物质的相互作用 | 第10-11页 |
| 1.2 正负电子致原子内壳层电离截面测量研究的意义 | 第11页 |
| 1.3 正负电子致原子内壳层电离截面测量研究的现状 | 第11-14页 |
| 1.4 正负电子致原子内壳层电离截面实验研究的目的 | 第14-15页 |
| 第2章 电子致原子电离截面的理论模型 | 第15-18页 |
| 2.1 PWBA-C-Ex理论模型简介 | 第15-17页 |
| 2.2 DWBA理论模型简介 | 第17-18页 |
| 第3章 实验方法介绍 | 第18-26页 |
| 3.1 实验装置 | 第18-19页 |
| 3.2 靶的制备 | 第19-22页 |
| 3.2.1 自支撑碳网格衬靶的制备 | 第19-20页 |
| 3.2.2 自支撑碳网格衬靶表面扫描电镜图像 | 第20-22页 |
| 3.2.3 薄膜厚碳衬靶的制备 | 第22页 |
| 3.3 探测器效率刻度 | 第22-26页 |
| 第4章 数据处理 | 第26-34页 |
| 4.1 自支撑薄膜网格衬靶的数据处理 | 第26-27页 |
| 4.2 薄膜厚碳衬靶的数据处理 | 第27-32页 |
| 4.3 误差分析 | 第32-34页 |
| 第5章 实验结果及分析 | 第34-38页 |
| 5.1 钨元素L壳层X射线产生截面值 | 第34-36页 |
| 5.2 钨元素M壳层X射线产生截面值 | 第36-38页 |
| 第6章 结论与展望 | 第38-40页 |
| 6.1 结论 | 第38页 |
| 6.2 展望 | 第38-40页 |
| 参考文献 | 第40-45页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第45-46页 |
| 致谢 | 第46页 |
