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MAPS持率成像处理方法研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
1 绪论第8-13页
 §1.1 研究背景、目的与意义第8-9页
 §1.2 国内外研究现状及发展趋势第9-10页
 §1.3 研究内容及技术路线第10-13页
2 MAPS测井原理第13-29页
 §2.1 水平井生产测井原理第13-17页
 §2.2 水平井生产测井仪器第17-18页
 §2.3 MAPS结构及成像测井原理第18-29页
3 MAPS阵列测井资料成像方法研究第29-47页
 §3.1 阵列电容、阵列电阻资料处理方法研究第29-31页
 §3.2 MAPS阵列持率计成像方法研究第31-47页
4 程序设计与资料处理第47-57页
 §4.1 阵列持率测井资料处理模块程序设计第47-50页
 §4.2 实际资料处理第50-57页
5 结论与建议第57-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-64页
个人简历第64-65页

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