X光安检图像处理方法研究
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-10页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
·课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-15页 |
·国内外 X 光安检设备发展现状 | 第11-13页 |
·国内外安检图像处理技术研究现状 | 第13-15页 |
·本文的研究工作与组织结构 | 第15-16页 |
·本文主要研究内容 | 第15-16页 |
·本文组织结构 | 第16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第2章 X 光安检机的成像原理及成像技术 | 第17-29页 |
·X 射线的特性 | 第17-18页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第18-24页 |
·相互作用效果 | 第18-20页 |
·X 射线的衰减 | 第20-21页 |
·物体等效原子序数 | 第21-23页 |
·物体密度的获取 | 第23-24页 |
·X 光安检成像系统 | 第24-26页 |
·X 光安检机的成像技术 | 第26-28页 |
·单能量 X 射线透射技术 | 第26页 |
·双能量 X 射线透射技术 | 第26-27页 |
·多视角透射技术 | 第27页 |
·计算机断层扫描透视技术 | 第27-28页 |
·不同透视技术的优缺点比较 | 第28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第3章 安检图像分割算法研究 | 第29-44页 |
·安检图像特点 | 第29-31页 |
·安检图像中物质类别确定方法 | 第29-31页 |
·安检图像的分割目的 | 第31页 |
·颜色空间 | 第31-34页 |
·RBG 颜色空间 | 第32页 |
·YCbCr 颜色空间 | 第32-33页 |
·HSV 颜色空间 | 第33-34页 |
·彩色图像主要分割方法 | 第34-39页 |
·基于阈值的图像分割方法 | 第34-36页 |
·基于区域生长的图像分割方法 | 第36-38页 |
·基于 K 均值聚类的图像分割方法 | 第38-39页 |
·基于 K 均值与区域生长的安检图像分割方法 | 第39-43页 |
·初始聚类中心的选择 | 第39-40页 |
·距离度量的选择 | 第40-41页 |
·安检图像分割流程 | 第41-42页 |
·实验结果与分析 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第4章 安检图像匹配算法研究 | 第44-62页 |
·违禁品类型与特点 | 第44-45页 |
·安检图像预处理方法 | 第45-47页 |
·基于材质分类的安检图像预处理 | 第45-46页 |
·基于尺寸筛选的安检图像预处理 | 第46-47页 |
·常用的图像匹配方法 | 第47-55页 |
·不变矩特征匹配 | 第47-50页 |
·基于灰度分布特征点的匹配方法 | 第50-52页 |
·基于角点检测的精度匹配方法 | 第52-55页 |
·基于安检图像的匹配方法 | 第55-60页 |
·安检图像匹配方法实现 | 第55-59页 |
·结果与分析 | 第59-60页 |
·违禁品安检图像识别库的建立 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第5章 安检图像实验与处理系统研究 | 第62-78页 |
·安检图像实验与处理系统介绍 | 第62-64页 |
·系统的设计方案 | 第62-63页 |
·图像处理功能 | 第63-64页 |
·图像处理系统的应用目的 | 第64页 |
·几何变换 | 第64-66页 |
·灰度变换 | 第66-69页 |
·图像去噪 | 第69-70页 |
·图像分割 | 第70-75页 |
·图像识别 | 第75-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
结论 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-85页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和获得的科研成果 | 第85-86页 |
致谢 | 第86-87页 |