高速连接器的仿真分析及优化
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-13页 |
·课题研究背景 | 第9-10页 |
·国内外研究现状 | 第10-11页 |
·论文的研究内容 | 第11-12页 |
·论文的结构 | 第12-13页 |
第二章 信号完整性的基本问题 | 第13-25页 |
·高速信号和高频信号 | 第13-14页 |
·传输线 | 第14-17页 |
·传输线理论 | 第14-15页 |
·传输线的信号路径和返回路径 | 第15-16页 |
·传输线模型 | 第16-17页 |
·信号的反射 | 第17-20页 |
·特性阻抗 | 第17-18页 |
·信号反射产生的机理 | 第18-19页 |
·减少反射的措施 | 第19-20页 |
·信号的串扰 | 第20-22页 |
·产生串扰的机理 | 第20页 |
·连接器内的串扰 | 第20-22页 |
·信号的衰减 | 第22-24页 |
·趋肤效应(Skin Effect) | 第22-23页 |
·介质损耗 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 高速连接器中的不连续及引起的反射问题 | 第25-36页 |
·差分对传输 | 第25-28页 |
·差分对结构 | 第25-27页 |
·差分对传输的优势 | 第27页 |
·差分对阻抗 | 第27-28页 |
·不同的路径弯曲方式引起的不连续 | 第28-33页 |
·路径弯曲类型 | 第28-30页 |
·三维仿真结果 | 第30-31页 |
·机理分析 | 第31-32页 |
·路径弯曲结构的优化设计 | 第32-33页 |
·横截面突变引起的不连续 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第四章 高速连接器中的串扰问题 | 第36-51页 |
·连接器整体结构模型 | 第36-39页 |
·差分对间串扰 | 第36-37页 |
·整体路径的结构模型建立 | 第37-38页 |
·混模S参数 | 第38-39页 |
·不同差分对结构对串扰影响 | 第39-43页 |
·不同差分对相对位置对串扰的影响 | 第39-42页 |
·不同介质及引起的结构变化 | 第42-43页 |
·最大串扰 | 第43-46页 |
·屏蔽结构对串扰的改善 | 第46-50页 |
·屏蔽对不同介质中结构的不同影响 | 第46-47页 |
·屏蔽结构的串扰的差异及在不同介质中的差异 | 第47-48页 |
·其余有效屏蔽结构 | 第48-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第五章 信号的衰减问题 | 第51-61页 |
·信号衰减问题 | 第51-53页 |
·连接器主要信号衰减问题 | 第51页 |
·介电常数和衰减角 | 第51-53页 |
·路径对衰减影响 | 第53-58页 |
·路径大小对衰减影响 | 第53-55页 |
·路径形状对衰减影响 | 第55-58页 |
·介质衰减 | 第58-60页 |
·常用介质引起的衰减 | 第58页 |
·介质参数变化引起的衰减变化 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第六章 总结与展望 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第65页 |