| 第一章 理论基础与技术概论 | 第1-22页 |
| 1．1 Fourier变换光谱学基本原理 | 第9-15页 |
| 1．1．1 干涉仪与干涉图 | 第9-11页 |
| 1．1．2 Fourier变换光谱仪的主要特点及用途 | 第11-13页 |
| 1．1．3 Fourier变换光谱仪的分辨率与分辨能力 | 第13-15页 |
| 1．2 Fourier变换光谱分辨率增强技术概论 | 第15-22页 |
| 1．2．1 谱估计、超分辨率谱估计与光谱分辨率增强技术 | 第15-16页 |
| 1．2．2 Fourier变换光谱超分辨率谱估计技术研究状况 | 第16-18页 |
| 1．2．3 选题意义与研究内容 | 第18页 |
| 参考文献 | 第18-22页 |
| 第二章 基于特征值分析与线性拟合的超分辨率谱估计方法 | 第22-57页 |
| 2．1 随机信号的参数模型与谱估计 | 第22-29页 |
| 2．1．1 平稳随机信号的参数模型 | 第22-25页 |
| 2．1．2 AR模型谱估计 | 第25-26页 |
| 2．1．3 AR模型和线性预测的关系 | 第26-27页 |
| 2．1．4 AR模型谱与最大熵谱的关系 | 第27-28页 |
| 2．1．5 AR模型谱估计的分辨率 | 第28-29页 |
| 2．2 基于特征值分析与线性拟合的谱估计方法原理 | 第29-33页 |
| 2．2．1 Prony谐波分析原理 | 第29-31页 |
| 2．2．2 系统特征值的定义 | 第31页 |
| 2．2．3 EALF超分辨率谱估计原理 | 第31-33页 |
| 2．3 参数估计的总体最小二乘问题研究 | 第33-44页 |
| 2．3．1 最小二乘问题与最小二乘解 | 第33-34页 |
| 2．3．2 矩阵的奇异值分解 | 第34-36页 |
| 2．3．3 总体最小二乘问题与总体最小二乘解 | 第36-41页 |
| 2．3．4 总体最小二乘方法在参数估计问题中的应用 | 第41-44页 |
| 2．4 EALF谱估计的仿真实验分析 | 第44-55页 |
| 2．4．1 基于Prony方法的谱估计的实验结果 | 第44-46页 |
| 2．4．2 有关EALF谱估计的实验结果 | 第46-55页 |
| 2．5 本早小结 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第三章 光谱线型估计与退卷积技术 | 第57-87页 |
| 3．1 红外光谱的线型特征 | 第57-62页 |
| 3．1．1 红外光谱的基本特征 | 第57-59页 |
| 3．1．2 谱线的增宽机制与线型函数 | 第59-61页 |
| 3．1．3 分辨率增强技术研究的红外光谱 | 第61-62页 |
| 3．2 干涉图与线型估计的可行性分析 | 第62-67页 |
| 3．2．1 单谱线的干涉图 | 第62-64页 |
| 3．2．2 双谱线的干涉图 | 第64-66页 |
| 3．2．3 多谱线的干涉图 | 第66-67页 |
| 3．3 退卷积技术研究 | 第67-84页 |
| 3．3．1 FSD分辨率增强原理 | 第67-69页 |
| 3．3．2 退卷积问题 | 第69-78页 |
| 3．3．3 噪声特性 | 第78-84页 |
| 3．3．4 结论 | 第84页 |
| 3．4 本章小结 | 第84-87页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 第四章 Fourier变换光谱分辨率增强技术在干涉成象光谱仪中的应用 | 第87-110页 |
| 4．1 通光能力和分辨能力 | 第88-89页 |
| 4．2 横向剪切干涉仪的光学原理 | 第89-96页 |
| 4．2．1 横向剪切分束器的基本特性 | 第90-95页 |
| 4．2．2 横向剪切干涉仪的光程差 | 第95-96页 |
| 4．3 基于横向剪切干涉仪的成象光谱仪原理 | 第96-103页 |
| 4．3．1 空间调制干涉成象光谱仪SMII | 第97-100页 |
| 4．3．2 大孔径静态干涉成象光谱仪LASIS | 第100-103页 |
| 4．4 实现超分辨率谱估计的软件设计 | 第103-106页 |
| 4．5 小结 | 第106-110页 |
| 参考文献 | 第107-110页 |
| 总 结 | 第110-114页 |
| 附录 1： 正文中出现的名词缩写说明 | 第114-115页 |
| 附录 2： 攻读博士学位期间发表或被录用的文章 | 第115页 |
| 附录 3： 攻读博士学位期间参与的课题 | 第115-116页 |
| 致 谢 | 第116页 |
