| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10-12页 |
| ·国内外非致冷红外焦平面阵列的发展状况 | 第12-17页 |
| ·非致冷焦平面的读出电路概况 | 第17-23页 |
| ·本文的主要研究内容及其意义 | 第23-24页 |
| 2 非致冷红外焦平面使用的CMOS 读出电路理论分析 | 第24-46页 |
| ·微测辐射热计的红外辐射响应过程 | 第24-28页 |
| ·CMOS 读出电路的工作原理 | 第28-33页 |
| ·CMOS 读出电路的性能要求 | 第33-37页 |
| ·CMOS 读出电路的噪声分析 | 第37-39页 |
| ·几种基本结构的读出电路比较 | 第39-43页 |
| ·其他CMOS 读出电路的相关技术 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 3 CMOS 读出电路整体设计及局部仿真与测试 | 第46-68页 |
| ·CMOS 读出电路的总体设计 | 第46-48页 |
| ·组成CMOS 读出电路的各分电路设计分析 | 第48-55页 |
| ·单个像元读出电路结构及驱动时序分析 | 第55-57页 |
| ·读出电路的信号读出及抑噪功能分析 | 第57-60页 |
| ·电路的仿真与测试结果 | 第60-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 4 低成本红外焦平面参数测试系统设计及实现 | 第68-86页 |
| ·红外焦平面测试系统的概述 | 第68-69页 |
| ·待测的性能参数 | 第69-71页 |
| ·测试系统的设计 | 第71-78页 |
| ·测试系统的定标试验及结果 | 第78-85页 |
| ·小结 | 第85-86页 |
| 5 采用CMOS 读出电路驱动的非致冷红外焦平面芯片的测试 | 第86-97页 |
| ·32×32 读出电路试验芯片的说明 | 第86-87页 |
| ·读出电路芯片的驱动 | 第87-89页 |
| ·读出电路的测试试验 | 第89-91页 |
| ·读出电路的测试结果及分析 | 第91-96页 |
| ·小结 | 第96-97页 |
| 6 总结与展望 | 第97-100页 |
| ·总结 | 第97-98页 |
| ·展望 | 第98-100页 |
| 致谢 | 第100-101页 |
| 参考文献 | 第101-112页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第112页 |