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航空高可靠处理器容错设计与实现

摘要第1-11页
ABSTRACT第11-12页
第一章 绪论第12-16页
   ·课题研究背景第12-13页
   ·课题研究现状第13-15页
     ·国外研究现状第13-14页
     ·国内研究现状第14-15页
   ·课题研究内容第15页
   ·论文结构第15-16页
第二章 高可靠微处理器设计第16-33页
   ·空间辐射环境及对微处理器的影响第16-23页
     ·空间辐射环境第16-17页
     ·空间辐射的影响第17-23页
   ·SPARC V8系统结构第23-26页
     ·SPARC V8的特点和组成第23-25页
     ·SPARC V8的实现—Leon3第25-26页
   ·高可靠处理器设计第26-32页
     ·普通处理器的单粒子翻转概率第26-28页
     ·高可靠处理器的单粒子翻转概率第28-31页
     ·高可靠处理器抗单粒子性能第31-32页
   ·本章小结第32-33页
第三章 高可靠处理器整数部件设计与实现第33-49页
   ·整数处理单元第33-37页
     ·七级流水线第33-35页
     ·寄存器文件第35-37页
   ·高可靠整数处理单元第37-48页
     ·汉明码技术研究第37-39页
     ·高可靠整数部件设计第39-42页
     ·高可靠整数部件实现和验证第42-48页
   ·本章小结第48-49页
第四章 高可靠处理器Cache系统设计与实现第49-63页
   ·Leon3 Cache系统第49-54页
     ·微处理器的存储系统结构第49-51页
     ·指令Cache设计第51-52页
     ·数据Cache设计第52-54页
   ·高可靠Cache系统第54-62页
     ·循环校验码技术研究第54-56页
     ·高可靠Cache系统设计第56-58页
     ·高可靠Cache系统实现和验证第58-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 高可靠处理器FPGA验证第63-69页
   ·FPGA验证平台第63-65页
     ·FPGA验证硬件平台第63-65页
     ·FPGA验证软件平台第65页
   ·高可靠处理器验证第65-68页
   ·本章小结第68-69页
第六章 结束语第69-70页
   ·全文工作总结第69页
   ·进一步工作展望第69-70页
致谢第70-71页
参考文献第71-74页
作者在学期间取得的学术成果第74页

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